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日置IM 3536 LCRテスタ

ネゴシエーション可能更新05/20
モデル
メーカーの性質
生産者
製品カテゴリー
原産地

概要

周波数DCを測定し、4 Hz〜8 MHzのLCRテスタ

製品詳細

製品仕様

測定モード

LCR(単一条件下で測定)、連続測定(保存条件下で連続測定)

測定パラメータ

Z,Y,θ,X,G,B,Q,Rdc(直流抵抗),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

測定レンジ

100 mΩ~ 100 MΩ、10速レンジ(すべてのパラメータはZで規定)

表示範囲

Z:0.00 m ~ 9.99 999 GΩ、Y:0.000 n ~ 9.99 999 GS、θ:±(0.000°~ 999.999°)、Q:±(0.00 ~ 999.999)、Rdc:±(0.00 m ~ 9.9999 GΩ)、D:±(00.0000 ~ 9.9999)、Δ%:±(0.0001%~ 99.999%)など

基本精度

Z:0.05%rdg.θ:0.03°(代表値、精度保証範囲:1 mΩ〜200 MΩ)

しゅうはすうそくてい

4 Hz ~ 8 MHz(10 mHz ~ 100 Hzステップ)

信号レベルを測定する

[Vモード、CVモード]の[通常モード]

4 Hz ~ 1.0000 MHz:10 mV ~ 5 V(最大50 mA)

[Vモード、CVモード]の[低Z高精度モード]

4 Hz ~ 1.0000 MHz:10 mV ~ 1 V(最大100 mA)

[CCモード]の[通常モード]

4ヘルツ~ 1.0000メガヘルツ:10μA ~ 50ミリアンペア(最大5ボルト)

[CCモード]の[低Z高精度モード]

4 Hz ~ 1.0000 MHz:10μA ~ 100 mA(最大1 V)

[直流抵抗測定]:1 V固定

DCバイアス

発生範囲:DC電圧0 ~ 2.50 V(低Z高精度モード時0 ~ 1 V)

出力インピーダンス

通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

表示

カラーTFT 5.7インチ、タッチスクリーン

機能

コンパレータ、BIN測定(2項目10種類分類)、トリガ機能、オープン・ショート補償、接触検査、パネル保存・読み取り機能、記憶機能

インターーフェース

EXT I/O(プロセッサ)、/USB/Uディスク/LAN/GP-IB/RS-232 C、BCD出力

電源

交流電力100 ~ 240 V、50/60 Hz、最大50 VA

体積及び重量

330 W×119 H×230 D mm、4.2 kg

添付

電源コード×1、取扱説明書×1



製品の特徴

  • 測定周波数DC、4 Hz ~ 8 MHz

  • 基本精度:±0.05%rdg

  • 1 mΩ以上の精度保証範囲でも安心して低抵抗測定が可能

  • 内部発生可能なDCバイアス測定

  • 研究開発から生産ラインまで様々な分野で活躍