同恵程制御交流耐圧試験器TH 9120 A/TH 9120 D

同恵程制御交流耐圧試験器TH 9120 A/TH 9120 D製品の詳細

同恵程制御交流耐圧試験器TH 9120 A/TH 9120 D概要

TH 9120 A/TH 9120 D交/直流耐圧絶縁抵抗試験器は高圧光カプラ及び高圧リレー、高圧スイッチ、PVモジュールなどの絶縁耐力の高いデバイスに対して高圧の耐圧試験と分析を提供する。耐圧試験では、出力AC：200 VA（10 kV、20 mA）、DC：120 VA（12 kV、10 mA）であるため、高耐圧の固定子、電機などの設備の耐圧試験に用いることができ、部品に対しても同様の試験を行うことができる。絶縁抵抗試験では、表示可能範囲は0.1 MΩ〜50 GΩ、試験電圧は50 V〜5000 Vは任意に設定できる。開短絡検出試験では、高圧試験を行う前に、被測定物が確実に接続されているかどうかを判断してから、高圧試験を行うことができる。表示面では、すべての試験モード、時間、電圧、電流、抵抗値、試験ステップなどがディスプレイに表示され、他にリスト表示モードがあり、マルチステップの設定と順序試験結果が表示されます。

絶縁崩壊検出

通常の試験耐圧は、図A-1に示すように、上昇時間と試験電圧値を設定しただけであり、試験時間内に被測定子に破壊現象が発生した場合、耐圧**と判断し、試験電圧を直接遮断する。したがって、従来の耐圧検出は、設定電圧での耐圧が合格したかどうかを判断することしかできない。

しかし、一部の受動部品や材料では、その高圧耐性の程度を検出し、正確な崩壊電圧値を得る必要があるため、従来の耐圧検出方法は無力である。そのため、TH 9120 A/TH 9120 Dは崩壊電圧検出機能を追加し、図A-2に示すように、崩壊電圧試験機能は設定された上昇の開始電圧、カットオフ電圧、電圧ステップ及び時間間隔に基づいて、徐々に被測定物を測定し、被測定物に耐圧絶縁**の現象が現れた後、自動的にその時の電圧値すなわち崩壊電圧を保存する。

電圧値がカットオフ電圧まで上昇しても、被測定体にクラッシュ現象が発生していない場合は、カットオフ電圧を再設定するなど、正確なクラッシュ電圧値が得られるまでさらに分析することができる。崩壊電圧試験モードは、被測定物を分析することができ、絶縁**を発生する耐圧の程度を正確に知ることができ、研究者はこれにより部品の絶縁が弱い部分に対して改善を行うことができる。

耐圧絶縁試験とアーク検出（ARC）

耐圧**とは、耐圧試験中に電気的なフラッシュオーバや絶縁破壊が発生することを意味します。現在、耐圧絶縁試験は各種電気機器及び絶縁材料**試験の標準装備となっている。しかし、絶縁破壊だけでは製品**の問題をすべて解決することはできず、もう一つの現象を考慮すると、アーク放電ARCは耐圧試験でますます重視され、放電と絶縁能力の間に高い相関性があるため、ARC検出は製品品質を制御する鍵である。

アーク放電現象は次の2つの場合に発生します。

a）材料が高い電圧を受け、電界強度が気体のイオン化エネルギーより大きい場合、材料表面の気体に瞬間的なイオン化現象を発生させ、その場合、材料表面に火をつけ、材料に温度上昇現象を形成する。長期的な打火と温度上昇は材料の質的変化をもたらし、さらに絶縁劣化を招き、電圧耐性を低下させ、*最終的に絶縁破壊が発生する可能性がある。

b）被測定物の検出点の間隔が小さすぎると、被測定物の両端に高い電圧が印加され、検出点の両端空間の空気がイオン化され、火遊び現象、つまりアーク引き現象を形成する。アーク引き現象は高周波の瞬時放電を発生し、試験過程で高周波電流信号が図のように発生し、アーク検出（ARC）機能は高周波電力量測定の方式で検出し、材料絶縁性能に**があるかどうかを判断する。

開短絡検知機能（TH 9120 Aのみ）

耐圧試験中に被測定物と試験線との接触**、試験線の損傷などにより、開放現象が発生し、**品を良品と誤審させる、被測定物が破損したり、被測定端の間隔が小さすぎたりして試験線が短絡したりする現象があり、OCS機能を使用して、計器は予め試験端の短絡状況を把握し、治具設備への傷害を減少し、試験コストを節約することができる。

同恵程制御交流耐圧試験器TH 9120 A/TH 9120 D特徴

★耐圧試験：AC：10 kV/*大20 mA/200 VA出力、クラッシュ電圧試験：0.05-10.0 kV
★アークARC検出機能
★OSCチェック機能
★高解像度：7インチ800×480ドット、TFT-LCD表示
★中国語と英語のメニュー操作画面
★ワンタッチスクリーンショット機能
★背面パネル出力機能、生産ラインの自動テストストレージを便利にする：100ファイル、各ファイル*50ステップのピン検査

仕様