熱伝導物性分析計

交渉可能更新02/08

モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

熱伝導物性分析計は材料の熱拡散と熱伝導性能測定の面でまた有力なツールである。ASTM E 1461の基準に従って、Nanoflashamp;#174;キセノンランプを加熱源として使用してサンプル表面を加熱し、赤外線検出器を使用してサンプルの温度上昇を読み取り、潜在的な表面熱抵抗を減少させ、マトリックス上のコーティング、フィルム材料、または多層サンプルなどの薄いサンプルを正確に測定することができる。

製品詳細

NETZSCH LFA 447 Nanoflash® フラッシュ熱伝導計、熱伝導物性分析計材料の熱拡散と熱伝導性能の測定におけるもう一つの有力なツール。ASTM E 1461の基準に従って、Nanoflash® キセノンランプを加熱源として使用してサンプル表面を加熱し、赤外線検出器を使用してサンプルの温度上昇を読み取り、潜在的な表面熱抵抗を減少させ、マトリックス上のコーティング、フィルム材料、または多層サンプルなどの薄いサンプルを正確に測定することができる。

Nanoflash® の操作は高度な自動化を実現する：ソフトウェアによって試験温度とフラッシュの開閉を制御し、データ分析を行う。自動注入システムは、1回のテスト中に複数のサンプルを測定することを可能にする。炉体が設定温度に到達した後、各拠点の採取は通常5分未満である。機器は、試料ごとにフラッシュエネルギーレベル、パルス幅、温度を個別に設定することができる。測定された熱拡散係数の範囲は非常に広く、ポリマーからダイヤモンドまでの様々な材料分野をカバーしている。

　　熱伝導物性分析計測定原理：加熱源であるキセノンランプはサンプルの下面にパルスを発射し、赤外線検出器によりサンプル上面の対応する温度上昇を測定し、ソフトウェアによりサンプルの熱拡散係数を計算する。

計器は熱拡散係数（α）と比熱（Cp）を同時に測定することができる。比熱の測定は、サンプルの実際の温度上昇と既知の比熱の参照サンプルの温度上昇を比較することにより求められる。サンプルの密度（ρ）が既知であれば、次の式に従ってサンプルの熱伝導率（λ）を計算することができる：

λ(T) = α(T) * Cp(T) * ρ(T)

内蔵された2または4種類の品位の自動サンプラを使用して、複数のサンプルの測定を同時に自動で行うことができます。サンプルトレイは操作が容易で、製本が速く、測定周期が短い。

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