テラヘルツ時間領域分光計

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モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

テラヘルツ時間領域分光計2018/12/13グラフェン及び2 D材料キャラクタリゼーションOnyxは、グラフェン、薄膜及び他の2 D材料の全領域非破壊キャラクタリゼーションを提供するために市場で設計されたシステムである。Onyxはマクロツールとナノツールの間の空白を補い、0.5 mm 2から大面積（m 2）までの特徴を検出することができ、研究材料の工業化レベルを高めることができる。Onyxは、他の大面積試験方法（例えば、4プローブ方法）と比較して、サンプル品質の空間分布を測定することができる。顕微鏡法（例えばラマン、SEM、TEM）とは異なり、数百ミクロンの空間分解能で大面積の試料を迅速に特性化することができる。モビリティとキャリア密度Onyxは、新しい結果を提供するために機能を改善し続け、その潜在力を大幅に向上させています。Onyxは、モビリティとキャリア密度解析を以前の機能に統合します。1回の測定だけで、このシステムは以下の物理的属性を正確に提供することができます：直流コンダクタンス、σDC、直流抵抗、RDC、キャリア散乱時間、キャリア移動度、μドリフト

製品詳細

グラフェンと2D材料特性評価

Onyxグラフェン、フィルム、その他を提供するために市場で設計されている2D材料の全領域非破壊特性化のためのシステム。

Onyxマクロツールとナノツールの間の空白を補うことで、0.5 mm²から大面積（m²）の特徴を有し、それによって研究材料の工業化レベルを増強する。他の大面積試験方法(例えば4プローブ方法)と比較する、Onyxサンプル品質の空間分布を測定することができる。顕微法（例えばラマン、SEMとTEM）とは異なり、数百ミクロンの空間分解能で大面積のサンプルを迅速に特性化することができる。

移動度とキャリア密度

Onyx新しい結果を提供するために機能を改善し、潜在力を大幅に高めることができます。Onyxモビリティとキャリア密度解析を以前の機能に統合します。1回の測定だけで、システムは以下の物理的属性を正確に提供することができます。直流コンダクタンス、σDC、直流抵抗、RDC、キャリア散乱時間、キャリア移動度、μドリフト

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