常温半導体試験ガス感受性試験大気プローブ台

交渉可能更新01/17

モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

常温半導体試験ガス感受性試験大気プローブ台は半導体装置の電気性能試験に用いる重要な設備であり、通常は精密な機械構造、高性能なプローブ針と電気性能試験機器から構成される。プローブステーションは、半導体チップ、集積回路、その他のマイクロエレクトロニクスデバイスに対して直接的な電気性能試験を行い、研究と生産に価値のある情報を提供することができる。プローブ台は主にウエハ加工後、パッケージプロセス前のCPテスト環節に用いられ、ウエハの輸送と位置決めを担当し、ウエハ表面から精密機器へより安定した信号を輸送することを確保し、より正確なデータテスト測定を実現する。

製品詳細

常温半導体試験ガス感受性試験大気プローブ台

常温半導体試験ガス感受性試験大気プローブ台技術パラメータ

遮断箱
材質	たんそこうふんしゃ
ボックスサイズ	180mmX120mmX80mm
ボックスサイズ	約2キログラム
ボックスオンウィンドウのサイズ	Φ42mm
サンプルテーブル
サンプルテーブル材質	アルミニウム合金（拡張可能真空吸着）（拡張可能と大地絶縁）
サンプルテーブルサイズ	φ30ミリメートル
プローブ
電気信号コネクタ	配線継ぎ手 BNC の接続 BNC のさんどうじくつぎて SMA接続バナナプラグどちらかを選ぶ線の長さ1.2米
でんきせいのう	ぜつえんていこう ≥5000MΩ 媒体耐圧≦500V でんりゅうざつおん ≤10pA
プローブ数	4プローブ（拡張性6プローブ）
プローブマテリアル	タングステン合金プローブ（その他マテリアルオプション）
プローブチップ	50μm または10μm（その他の仕様オプション）
手動プローブ移動プラットフォーム
移動モード	全手動点針
X軸移動ストローク	15mm±7.5mm（テーブルを手動で押す必要がある）
X軸制御精度	≥500μm
R軸移動ストローク	120° ±60°（プローブレバーを手動で回転させる必要がある）
R軸制御精度	≥500μm
Z軸移動ストローク	5mm
Z軸制御精度	≤50μm（手動ネジ調整プローブロッドが必要）

現在、同社はすでに実験電気炉CVDガス供給システムプラズマ洗浄機小型イオンスパッタリング器小型蒸着器石英管真空封口半導体などを網羅した製品十数シリーズ数十種類を開発、生産している。主に科学研究院と工鉱企業の新材料、新エネルギーなどの分野の物理特性と化学特性の研究に適用し、各大学、材料研究所に広く販売されている。

会社と国内の大学、科学研究院のすべての多層的な協力関係は、開放実験室を建設し、関連分野の教授、エンジニア、博士が会社製品の研究と開発に参加している。私たちは会社の発展理念を受け継ぎ、厳格な技術研究開発能力、科学的で合理的な生産技術、精進的な製造要求に頼って、誠心誠意製品の品質とサービスの仕事をしっかりと行い、科学探知器は常に誠実な心を持ってあなたとの協力を期待しています。

類似製品推奨