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住所
北京市海淀区清河安寧荘東路18号23号棟2階
Beijing Chuangheng Kejie Technology Co., Ltd
北京市海淀区清河安寧荘東路18号23号棟2階
TM 4000卓上型電子顕微鏡低真空の条件下で多様な観察を行うことができ、静電気が発生しやすい粉末や含水などのサンプルについては、その目的に合わせて観察することができる。

従来の導電性試料を観察するだけでなく、絶縁物と含水、含油試料を前処理なしで観察することもできる。二次電子像と後方散乱電子像との切り替えを迅速に行うことができる。
高感度低真空二次電子検出器
高感度低真空二次電子検出器(UVD)を用いた。電子線と残留ガス分子との衝突による光を検出することで、二次電子情報を持つ画像を観察することができる。また、この検出器を制御することで、電子照射による光を検出し、CL情報(UVD-CL:CL情報付き画像)を得ることができる。

高感度低真空二次電子検出器の検出原理

TM 4000 II/TM 4000 Plus IIは加速電圧20 kVをサポートすることができる。
EDS分析(オプション)により、より高い計数率解析を行うことができる。

TM 4000卓上型電子顕微鏡新たに開発されたSTEM試料台と高感度低真空二次電子検出器(UVD)を組み合わせて使用することで、小倍率STEM画像を容易に観察することができる。
フィルムサンプルや生体サンプルを容易に観察することができます。

サンプル:マウス腎臓
加速電圧:15 kV
観察信号:STEM画像
倍率:1000倍

サンプル:マウス肝臓
加速電圧:15 kV
観察信号:STEM画像
倍率:5000倍