スパイクX蛍光分光器XEPOS技術パラメータ

スパイクX蛍光分光器XEPOS技術パラメータ

ドイツのスパイク分析機器会社は、偏光X線を蛍光分析に応用する極めて成功した技術を開発した。現在、高品質の画像を撮影する際に偏光フィルタがかけがえのないツールであるように、このような分析技術は実験室で主量、次量、微量元素を測定するかけがえのない手段となっている。スパイク分析機器会社はこの技術を発展させ、次世代の機器であるSPECTRO XEPOSデスクトップ偏光X線蛍光分光器を発売している。
スパイクX蛍光分光器XEPOS技術パラメータ

SPECTRO XEPOS内部には高性能部品が採用されており、良好な感度と正確性を得ることができる。偏光二次ターゲットを採用して*良い励起を確保し、12ビットサンプル自動交換器、予めインストールされたアプリケーションパッケージとスマートソフトウェアモジュールを使用して、SPECTRO XEPOSを真の多機能要素分析器にする。

SPECTRO XEPOSには、工場で事前に校正されたさまざまなハードウェアと分析方法を含む、事前にインストールされたアプリケーションパッケージが用意されています。分析に適している：土壌、汚泥、油中添加剤、セメント、スラグ、耐火材料、電子部品RoHS検査など。

XEPOS型X線蛍光分光計は各種電子材料及びプラスチック中の鉛、カドミウム、（水銀）などの元素分析に広く応用でき、検出下限が低く、感度が高く、安定性がよく、欧州WEEE、RoHS指令に対応できる。