分光偏光複屈折ミュラーアレイ測定装置

スペクトル偏光/複屈折/ミュラーアレイ測定装置

分光偏光計Sci-Ral

光偏光状態、複屈折（RO、Rth）及びミュラー行列のスペクトル測定

・測定波長：400〜800 nm、分解能：2 nm

・偏光状態（ストークススペクトル）測定

・複屈折（最大100,000 m）、Rth解析

・ミュラー行列を用いた偏光特性の評価

・高さはカスタマイズ可能で、反射率測定などに適しています。

複屈折測定

・このツールは、可視光範囲全体にわたって光学フィルムと波長板の遅延と配向を測定し、遅延波長分散の実際の測定と評価を実現することができる。

・100,000 nmまでの高解像度位相差解析及び手動Rth解析に対応している。

ミュラー行列

ミュラー行列測定は、すべての偏光特性（線形二色性、円二色性、複屈折、旋光性、偏光解消）をそれぞれ分析するために使用することができ、それにより、位相差フィルム中の旋光性、ポリマー材料とナノ粒子が示す線形二色性などの材料特性を評価することができる。ミュラー行列は、透過光と反射光のシミュレーションにも使用できます。

偏光（ストークス分光法）測定

これは、光学素子等の透過／反射光の偏光状態を測定するためのSci−Ralの基本的な機能である。Sci−Ralはユーザが自由に設定できるので、様々な偏光測定に使用することができる。

円偏光膜を透過する光強度を測定することで、その特性を簡単に評価することができます。

-円偏光の回転方向を識別する

−円偏光を実現する際の波長−円偏光板が機能する波長範囲

光学素子の他にも、液晶プロジェクタなどの光学系が発する光の偏光や、偏光蛍光などの発光を測定することができる。