小型HASTエージング試験箱

小型HASTエージング試験箱（HAST老化試験装置）、超加速寿命試験機とも呼ばれ、高温、高湿、高圧環境を通じて製品の老化過程を加速する工業設備であり、主に電子部品、半導体、PCB板などの製品の加速寿命試験及び故障分析に用いられる。

小型HASTエージング試験箱目的は環境応力（例えば：温度）と動作応力（製品に印加する電圧、負荷など）を高め、試験過程を加速し、製品またはシステムの寿命試験時間を短縮し、いつ電子部品が発生し、機械部品の摩耗と使用寿命の問題、使用寿命の故障分布関数がどのような形状を呈しているか、および失効率が上昇した原因を分析して行う試験に用い、IC半導体、コネクタ、配線板、磁性材料、高分子材料、EVA、光起電力モジュールなどの業界関連製品を加速老化寿命試験に用いた。