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hy207@163.com
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電話番号
13392868367
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アドレス
竜岡中心城茘園ビル
深セン喬邦計器有限公司
hy207@163.com
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テスト原理
ソフトウェアプログラムの制御により、X線発生路に適切なX線脱励起試験フィルム材料中のsiまたはその他の元素を発生させ、X線に励起されて不安定状態になり、高エネルギー層の電子が正孔井戸に遷移して特定のエネルギーを放出して検出器に受信される。各元素には特定のエネルギー特徴線があるため、検出器の識別、コンピュータソフトウェアの計算により、その元素を正確に識別し、含有量を計算することができる。・器だけは大面積の品体シリコンドリフト検出器を採用し、分解能は125 eVに達し、AKアルミニウム)元素とsi(シリコン)元素を分解することができる。
技術的特徴
試験はX線蛍光分光法の原理を採用し、試験過程は消耗品を必要としない
・ライトパイプが垂直に照射され、シリコン元素の性能がより強く励起される
試験下限がよく、0.01 ghn'のシリコン塗布量を正確に測定できる
・大面積シリコンドリフト検出器を採用し、試験結果は極めて正確である
高品位液体ディスプレイを配置し、テスト過程とテスト結果が一目でわかる
装置は複数のuインタフェースを集積し、データと通信伝送は多種の要求を満たす
空気光路の内部環境は著しく最適化され、大気環境と同様に直接試験することができる
ワンタッチテスト/操作が簡単でインテリジェント、テストプロセスの使用時間が短く、結果がより正確
新しいモデルアルゴリズムを迅速に採用し、軽元素の測定安定性を大幅に向上させた

