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衢州市衢化路870号
製品分類
- ハンドヘルドLIBS分光計-Vulcanシリーズ
- FEI走査電子顕微鏡Apreo材料の科学的応用
- SA−6300型原子蛍光形態解析器
- PerkinElmer Frontier Fourier変換赤外分光計
- HRTS-150タッチスクリーンディジタルロックウェル硬度計
- デュアル周波数防振プラットフォーム
- 島津AIM-9000
- 島津PDA-5000光電直読分光計
- 上海雷磁気携帯型水質測定器シリーズ
- KD-320里硬度計
- 携帯型表面粗さ測定機SJ-210/SJ-310
- TLS-Wシリーズマイコン制御ダンパースプリング圧力試験機
- 米ハッシュ1900 Cエコノミーポータブル濁度計
- 万濠全自動映像計（H型）
- OCS-JJE直視型電子フック秤
- 上光XSP-BM 18 AY科学研究級LED三眼蛍光顕微鏡
- ブルックMPA多機能フーリエ変換近赤外分光計
- 三豊PJ-H 30プロジェクタ
- 三豊RA-120コンパクト丸み測定器
- ビッカース自動測定システム
- PM-11透過反射偏光顕微鏡
- 蔡司Stemi 305体視顕微鏡
- Leica DM 4 P半自動専門偏光顕微鏡研究級知能デジタル式
- XRF-1800形
- オーハウス電子天秤FR 522 CN
- 上光XSP-BM 22 AY科学研究級三眼蛍光顕微鏡
- Leica DM 100/300バイオ顕微鏡
- 島津EDX-LE Plus蛍光分光器
- OLYMPUS CX 31生物顕微鏡
- Leica M 125体視顕微鏡
- 北京鋼研ナックON−3000酸素窒素分析器
- HORIBA EMGA-830オキシ窒素水素共同測定器
- 米ハッシュ携帯式濁度計2100 Q
- アンジェロンAgilent 7890 Bガスクロマトグラフィー
- Prio Star教育用正置顕微鏡
- DX-100ユニバーサル測長計
- PM-14無限遠光透過反射偏光顕微鏡
- Leica S 9 E/S 9 i/S 9 D体視顕微鏡
- MTSドロップハンマ衝撃試験機
- 日立S-3700 N走査電子顕微鏡
- Leica Z 16 APO体視顕微鏡
- EXPEC 7000型誘導結合プラズマ質量分析計（ICP-MS）
- ドイツKSI v 300超音波走査顕微鏡高分解能音響顕微鏡システムの故障解析実験室用音響顕微鏡
- HVS-10/20/30/50ディジタルビッカース硬度計
- OLYMPUS IPLEX RX/RT工業内視鏡
- 力徳FLYシリーズ移動橋式三座標測定機
- HVST-5 Z/10 Z/30 Z/50 Zタッチスクリーンデジタルオートタレット型ビッカース硬度計
- ハイクスコーンGlobal Advantage橋式三座標
- OLYMPUS CX 41生物顕微鏡
- GCMS-QP 2020 NXガスクロマトグラフィー質量分析併用器
- 三豊RA-10コンパクト丸み測定器
- OLYMPUS CX 23生物顕微鏡
- 力徳DRAGONシリーズ手動三座標測定機
- Testo 174シリーズ温湿度記録計
- 米国ハッシュTU 5200卓上濁度計
- MARSURFM 300移動式粗さ測定器
- LCMS-8060 NX島津三重四重極ロッド液体クロマトグラフィー質量分析併用器
- 紫外分光光度計UVmini-1285
- 全自動ロックウェル硬度計
- オリンパス工業用ビデオ内視鏡IPLEX NX
- HR-150 DTS電動数顕型ロックウェル硬度計
- エアフロートレバー防振光学プラットフォームZDT-Bシリーズ
- Leica M 80体視顕微鏡
- Leica DM 500/750三眼生物顕微鏡
- MTS全自動落下ハンマー衝撃試験機
- 雷磁性ZD-2型自動電位滴定器
- 移動式分光計PRO
- オーハウスディフェンダー® 5000シリーズ中精度台秤
- JDS-1000 HA高精度1メートル測長機
- 島津LCMS 8060
- 上光XSP-BM 21 AY蛍光顕微鏡
- PM-13無限遠光学透過偏光顕微鏡
- 島津半微量分析天びんAUW-Dシリーズ
- 雷磁性ZDJ-5 B型自動滴定器
- オーハウス卓上イオン計Starter 5000 i
- Mars-400 Plus携帯ガスクロマトグラフィー-質量分析併用器（GC-MS）
- 集光科学技術CS 5000高周波赤外炭素硫黄分析器
- 島津GCMS 2010
- 上光XSP−BM 13 C三眼蛍光顕微鏡
- 米国ハッシュTL 23シリーズ卓上濁度計
- ハニカム防振光学プラットフォーム精密光学プラットフォーム
- 島津Nexera LC-40シリーズ液体クロマトグラフィー
- GCMS-TQ 8040 NX三重四重極ロッド型ガスクロマトグラフィー質量分析併用器
- 島津EDX-7000/8000/8100
- 島津SPM-8000 FM
- ポータブルラマンRM-3000
- 島津ICPMS-2030誘導結合プラズマ質量分析計
- TLSシリーズスプリング疲労試験機
- 島津走査プローブ顕微鏡SPM-9700 HT
- サイマー・ダイアン・ディオネックス™ ICS 600イオン
- 平沼クーロン法カース水分測定器AQ-300
- XRD-7000
- モバイル分光計（PM 2）
- LAMBDA 650/850/950紫外/可視/近赤外分光光度計
- 威而信MMD-H 50粗さ計
- 雷磁気精密酸度計PHSJ-4 F
- アンジェロンAgilent 1260 Infinity II液体クロマトグラフィーシステム
- NexION 2000 ICP-MSカラム
- ブルックTENSOR IIフーリエ赤外分光器
- 島津アクシスNOVA
- GCMS-QP 2020単四極ロッド型ガスクロマトグラフィー質量分析併用器
- MXF-2400型蛍光分光計
- OCS-XZ-GSE小型電子釣竿
- 日本電子JSM-7200 F熱電界放出走査電子顕微鏡
- ドイツのスパイク金属分析器SPECTROMAXx
- 島津Essentia Prep LC-16 P液体クロマトグラフィー
- ARTUS 10全スペクトル直読分光計
- LAMBDA 265/365/465紫外/可視分光光度計
- メーテル超越系列滴定器T 9
- 島津GCMS-2010 SE
- ダンピング防振光学プラットフォーム
- 日本電子JSM-7500 F冷電界放出走査電子顕微鏡
- 雷磁性ZDJ-4 B型自動電位滴定器
- サイマーフライNicolet iS 50フーリエ変換赤外分光計
- ECO飲料水の安全検出イオンクロマトグラフィー
- 移動式分光計PRO 2
- 雷磁性携帯酸度計PHBJ-260
- XRD-6100型
- 島津LCMS-8050
- ブルックALPHA IIフーリエ変換赤外分光器
- PerkinElmer Spectrum Two赤外分光器
- 島津NexisGC-2030ガスクロマトグラフィー
- Aivio 200誘導結合プラズマ発光スペクトル
- HIR-944 D高速引火炉赤外炭素硫黄分析計
- GCMS-TQ 8050 NX三重四重極ロッド型ガスクロマトグラフィー質量分析併用器
- HIR-944 B高周波赤外カルボニル硫黄分析器
- オーハウス汎用実験室pH計ST 2100
- 集光E 5000アーク直読発光分光計
- メトラー・トレド新超越系列電位滴定器
- CSマルチチャネル電気化学ワークステーション
- CSシリーズ単一チャネル電気化学ワークステーション
- オーハウス専門実験室pH計ST 3100
- アンジェロンAgilent 8890ガスクロマトグラフィーシステム
- サイマー飛Aquion RFICイオンクロマトグラフィー
- アンジェロンAgilent 1290 Infinity II 2次元液体クロマトグラフィーソリューション
- 集光M 4000 CCD全スペクトルスパーク直読分光計
- UV-1800紫外可視分光光度計
- UV-2600/UV-2700紫外分光光度計
- 蔡司GeminiSEMシリーズ製品高コントラスト、低電圧イメージングの電界放出走査電子顕微鏡
- LCMS-9030液体クロマトグラフィー質量分析併用器
- 平沼容量法カース水分測定器AQV-2200
- 雷磁性ZDCL-1塩素イオン自動電位滴定器
- ARUN ARTUS 8デスクトップメタルアナライザ
- PerkinElmer LS 45/55型蛍光/燐光/発光分光光度計
- Metrohm燃焼炉−イオンクロマトグラフィー併用システム
- 島津PDA-8000光電直読分光計
- 島津Nexera UHPLC超高速液体クロマトグラフィー
- Optima 8000プラズマ発光分光器
- ARUN PolySpek-J火花直読分光計
- ツァイスEVO走査電子顕微鏡
- 島津HS 20天空注入器
- 島津IRAffinity-1 S
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- 日立FlexSEM 1000走査電子顕微鏡
- 島津Nexera SR高速液体クロマトグラフィー
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- ProminenceモジュラーHPLC
- 島津GC-2010 Plus
- Avio 500誘導結合プラズマ発光分光器
浙江藍矢計器有限公司
概要
島津SPM-8000 FM
製品詳細
HR-SPM
生き生きとしたナノ世界を観察する
HR−SPMは周波数検出方式（Frequency Modulation）を用いた次世代原子間力顕微鏡である。大気・液体環境における超高分解能の観察だけでなく、固液界面の水化作用層（hydration）・溶媒化作用層（solvation）の観察も初めて実現した。
HR-SPM：High Resolution Scanning Probe Microscope
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●FM（周波数変調）方式を採用する 従来のSPM（走査型プローブ顕微鏡）／AFM（原子間力顕微鏡）はAM（振幅変調）方式であったが、FM（周波数変調）方式は原理的に高感度検出によってより高い分解能を実現することができる。 SPM：Scanning Probe Microseope |
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