半導体チップ冷熱衝撃箱電子部品急速温度変換箱

製品名半導体チップ冷熱衝撃箱電子部品急速温度変換箱 半導体チップ冷熱衝撃箱電子部品急速温度変換箱

二箱式温度衝撃試験箱

一、製品の用途

温度衝撃試験箱はまた冷熱衝撃試験箱と呼ばれ、ゴンドラ式垂直冷熱衝撃試験箱または水平スライド式冷熱衝撃試験箱に分けられ、電気工、電子製品の機械全体と部品の耐寒試験、温度の急速な変化またはグラデーション条件下の適応性試験に広く用いられ、特に電気工、電子製品の環境応力スクリーニング（ESS）試験に適している。

二、製品規格（mm）

1.型番WDCJ-50バスケットサイズD×W×H 320×350×450外形寸法D×W×H 1200×2500×1800

2.型番WDCJ-100バスケットサイズD×W×H400×500×500外形寸法D×W×H 1400×2500×1800

3.型番WDCJ-150バスケットサイズD×W×H500×500×600外形寸法D×W×H 1500×2600×1850

4.型番WDCJ-225バスケットサイズD×W×H750×600×500外形寸法D×W×H 1700×2650×1900

5.型番WDCJ-250バスケットサイズD×W×H700×650×550外形寸法D×W×H 1900×2700×1950

6.型番WDCJ-500バスケットサイズD×W×H800×800×800外形寸法D×W×H 2500×3200×2100

7.型番WDCJ-010バスケットサイズD×W×H1000×1000×1000外形寸法D×W×H 3000×3500×2100

8.型番WDCJ-015バスケットサイズD×W×H1500×1000×1000外形寸法D×W×H 4000×4200×2200

三、技術パラメータ

1.温度衝撃範囲：0℃〜150℃（A）、−20℃〜150℃（B）、−40℃〜150℃（C）、−60℃〜150℃（D）、

2.温度範囲：−20℃〜200℃（A）、−40℃〜200℃（B）、−60℃〜200℃（C）、−70℃〜200℃（D）

3.試験区：①温度変動度±0.5℃（温度30 min一定後）、②温度偏差≦3℃、

4.高低温領域：温度変動度≦±2.0℃、

5.昇温速度：1.0〜3.0℃/min、

6.降温速度：0.7〜1.0℃/min、

7.温度変換：試料バスケットを高低温室で切り替えて移動し、動的な運行を行う

8.試験片移送方式：空気圧

9.温度変換時間：≦5 s（試料は高温域から低温域または低温域から高温域まで）、

10.温度回復時間：≦5 min

11.電源電圧：AC 380±10%V 50 Hz

四、箱体構造

1.試験箱構造形式：全体組合せ構造形式を採用し、上下構造式と左右構造式に分け、この方式を採用して箱体の敷地面積が小さく、構造がコンパクトで、外形が美しく、冷凍ユニットは独立したユニット箱の中に置いて、冷凍ユニットの運行時の振動、騒音が試験箱に与える影響を減少させ、同時にユニットの取り付けと修理を便利にして、電気制御パネルは試験箱の右側板の上に置いて、運行操作を便利にする

2.箱体外壁材料：冷間圧延鋼板、表面静電射出成形処理、

3.箱体内壁材料：ステンレス板（SUS 304）、

4.保温材料：耐高温防火硬質ポリアミドエステル発泡又は耐高温防火超微細繊維ガラス保温綿、

5.試験箱ドア：ダブルシリカゲル密封及びシールストリップ加熱装置を備え、自己温度制限加熱ストリップを設け、試験時の凝露と霜防止、

6.サンプルラック：メッシュステンレスサンプルラック、

7.ケーブル試験孔：サンプルラックの上部と高温試験箱体の頂部にスライド式ケーブル配線管を設置し、

五、冷凍システム

1.冷凍システム及び圧縮機：試験箱の降温速度と温度に対する要求を保証するために、本試験箱の冷凍システムはフランス*装フランス「泰康」全閉鎖圧縮ユニットを採用し、この冷凍システムは整合が合理的で、信頼性が高く、使用メンテナンスが便利であるなどの利点がある、

2.冷凍システムの設計にエネルギー調節技術を応用し、有効な処理方式は冷凍ユニットが正常に運行している情況の下で冷凍システムのエネルギー消費と冷凍量に対して有効な調節を行うことができ、冷凍システムの運行費用を比較的経済的な状態に下げることができる、

3.高品質無酸素銅管、窒素充填溶接；

7.冷媒：環境配慮型冷媒R 404 A、R 23を採用する、

8.冷凍補助部品：主要冷凍部品及び制御部品はすべて*際知*ブランドを採用し、例えば米国SPORLAN膨張弁、イタリアCASTEI電磁弁、遮断弁、フィルタ、米RANCO圧力制御装置など。