Sarspec分光計X-RES

製品名：Sarspec分光計X-RES

製品型番：X-RES 1

製品紹介

X−RESは、解析可能な高解像度性能を必要とする分光計の理想的な選択肢である正確度量が大きい 0.05 nm（FWHM）の密配列スペクトル特性。X-RESは頑丈でコンパクトな光学台に設置され、焦点距離は100 mmで、動作波長範囲で提供できる高いの性能と感度、および大きなピーク対称性があり、これにより、この一連の分光計は高解像度応用のソリューションとなった。

X-RESは、より一般的なアプリケーションに適した即使用型とユーザーカスタム（より具体的なアプリケーションに適した）構成を提供し、狭いUV-VisとVis-NIR範囲、および拡張されたUV-Vis-NIR範囲に適しています。

パフォーマンスの特長

l高解像度アプリケーションに最適

lユーザがスリットと光学フィルタを交換可能

l光学分解能が低い 0.05ナノメートル（半値全幅）

l改良された光学設計 -焦点距離100 mm

l付帯 LightScanソフトウェア

選択ガイド

技術仕様

産地：ポルトガル

操作範囲：185 ~ 1100 nm（8操作範囲に分ける）

集光レンズ：オプション（感度が向上したバージョンを含む）

光ファイバコネクタ：SMA 905

トリガトリガ：入力ニュウリョク/出力

スリット寸法：10μm（交換可能）

検出器：3648素子Toshiba

統合時間：3ms-214s

ソフトウェア：LightScan（含む）

ラスターらすたー:選択範囲によるせんたくはんいによる

光学分解能：0.05〜0.1 nm

インタフェース：ミニUSB

製品アプリケーション

X-RESは、高解像度アプリケーションのすべての要件を満たす高解像度パフォーマンスを備えた分光計です。

ユーザが交換可能なスリットと光学フィルタ機能を設定できます X−RESはより感度の高い測定を行うために使用される。