せいみつインピーダンスアナライザ

常州同恵電子は現在のせいみつインピーダンスアナライザ原理開発に成功した次世代インピーダンス試験機器は、国産インピーダンス試験機器の*新高さである。TH 2851シリーズインピーダンスアナライザはWindows 10オペレーティングシステムに基づいて、全コンピュータ化操作インタフェースを実現し、テストをよりスマートに、より簡便にする。TH 2851シリーズのインピーダンス解析器も海外の同類機器120 MHzの周波数ボトルネックを超えている。国外の同類計器が分析しかできず、単独でテストできない欠陥を解決した、中国語と英語の操作インタフェースも外国の機器が英語インタフェースしかない気まずいことを解決した、単一測定と分析の2つのインタフェースを採用して、テストをより簡単にします。*の自動平衡ブリッジ技術のおかげで、10 Hz-130 MHzの周波数範囲で0.08%の基本精度を保証することができます。4端子対のポート配置方式は試験線の電磁結合の影響を効果的に除去し、低インピーダンス試験能力の下限を従来の5端子配置の機器より10倍下方に拡張することができる。

　　せいみつインピーダンスアナライザの性能特徴

■試験周波数：10 Hz-130 MHz

■高精度：自動平衡ブリッジ技術を採用し、四端対テスト配置

■高い安定性と一貫性

■高速度：*5 msまでのテスト速度

■高解像度：10.1インチ容量式タッチスクリーン、解像度1280*800

■ポイント測定、リスト走査、グラフィック走査、等価回路、水晶発振器解析の5つの試験方式

■四パラメータ測定

■自動レベル制御（ALC）機能

■4チャンネルグラフィックスキャン機能、チャンネルごとに4つの曲線を表示でき、チャンネルと曲線はあり、14種類のスクリーン表示方式

■*の選別：LCRモード10段階選別

■グラフィックスキャンモードカーブごとに個別に選択

■高互換性：SCPI命令セットをサポートし、KEYSIGHTE 4990 A、E 4980 A、E 4980 AL、HP 4284 Aと互換性がある。

A.高精度自動平衡ブリッジ技術の応用により、10 Hz-130 MHz周波数、1 mΩ-100 Mのインピーダンス範囲内で理想的な測定精度を達成することができ、そのうち*高精度は0.08%に達し、無線周波反射測定法のインピーダンス分析器、ネットワーク分析器の精度よりはるかに高い。

B.高安定性と高一致性下図は速度5、試験周波数1 MHzで、100Ω抵抗を測定する曲線であり、下図からその軌跡雑音≦0.003%（≦±0.0015Ω）が見える

D.10.1インチの大画面、4種類の測定パラメータ、細部を10.1インチのタッチスクリーン、1280*800の解像度、Windows 10システム、中国語と英語の操作インタフェースを一望でき、キーボード、マウス、LAN、VGA/HDMIインタフェースをサポートし、比類のない操作の利便性をもたらす。

大画面により多くの利点がもたらされるのは、すべての試験パラメータおよび選別パラメータ、選別結果、機能選択などのパラメータを同じ画面に置くことができ、しかも混雑や乱雑さがないように見えると同時に、4種類の測定パラメータを表示することができ、4種類の測定パラメータを任意に調整することができるということだ。画面左側のボタンでは、8つのテストパラメータをすばやく選択できます。

E.強化されたリスト走査機能は1601点のリスト走査を多く設定することができ、各点は単独で試験周波数、試験電圧、直流バイアスなどの試験条件を設定することができる。

F.*の解析グラフィックスインタフェース

*マルチチャネルは、*4つのカーブをマルチ表示できます。チャンネルとカーブにはそれぞれ14種類のスクリーン表示方法があります。

G.等価回路解析試験実生活における異なるタイプのデバイスは、簡単な3パラメータ4モデル、4パラメータ3モデルのインピーダンスデバイスに等価化することができ、等価回路解析試験機能はこれらのデバイスを等価化するために7種類の基本的な回路モデルを提供する。

シミュレーションされた等価回路パラメータ値のインピーダンスフィッティング曲線と実際に測定されたインピーダンス曲線を比較することができ、入力されたパラメータを通じて選択されたモデルにフィッティングすることもできます。

アプリ

■受動部品：

コンデンサ、インダクタ、磁気コア、抵抗器、圧電素子、変圧器、チップアセンブリ、ネットワーク素子などのインピーダンスパラメータ評価と性能分析。

■半導体素子：

LED駆動集積回路の寄生パラメータ試験分析、可変容量ダイオードのC−VDC特性、トランジスタまたは集積回路の寄生パラメータ解析。

■その他の構成部品：

■媒体材料：

プラスチック、セラミックス、その他の材料の誘電率と損失角の評価。

■磁性材料：

フェライト、非晶質、その他の磁性材料の透磁率と損失角の評価。

■半導体材料：

半導体材料の誘電率、導電率、およびC−V特性。

■液晶セル：

誘電率、弾性定数などのC-V特性。