自動変圧器試験システム

常州同恵電子は長年の変圧器テストの経験の上で、次世代技術を採用して成功した次世代自動変圧器試験システム革新的なのはデュアルCPUアーキテクチャ、Linux基盤システム、10.1インチ容量式タッチスクリーン、中国語と英語の操作インタフェース、内蔵使用説明とヘルプなどの新世代技術を採用し、従来のテストシステムの設置が煩雑で、テスト速度が遅く、表示補完、PIN足位不足などの欠陥を解決した。

th2840ax2840bxt2840nx自動変圧器試験システム10.1インチ、解像度1280*800に達する静電容量式タッチスクリーンを採用したおかげで、すべての足位設定、試験条件、足位列並列、平衡設定を1画面操作と同等にすることができ、設置過程を簡略化し、さらに計器操作者の設置の難度を下げた。

A.革命的な設計

デュアルCPUアーキテクチャ、Linux基盤、タッチスクリーン、キーボード、マウス、内蔵中英語ヘルプなどの設計をサポートする、

操作者の参入障壁を大幅に低減し、テスト効率を数倍に向上させる。

B.10.1インチ大画面、設置効率を簡略化し、操作難易度を下げる

10.1インチタッチスクリーン、1280*800解像度、タッチ式大画面はより多くの利点をもたらし、すべての変圧器の足位関連、テストパラメータ、足位列並列、選別パラメータなどのパラメータを同じ画面に置き、直接手またはキーボードマウスで操作することで、操作が迅速であるだけでなく、混雑や雑然としていないように見える。

1.TH 2840 AXTH 2840 BXTH 2840 NXパターン化トランスフットビット関連ページ

初期の足位関連ページの設定は煩雑で、しかも第一時間に変圧器の足位、試験治具の足位を1つ1つに対応することができず、設定は難しい。

この弊害に対して、新世代は自動変圧器試験システムフットビット関連インタフェースに画像、色、枠線などの要素を追加し、フットビット設定とテスト牛角の関連性を向上させ、ユーザーはトランスフットビットと実物を最初に関連させることができ、設定の難易度と配線ミスの可能性を下げることができる。

2.シングルページ変圧器試験条件の設定

初期にテストパラメータを設定するには、Lxの関連パラメータを設定するなど、異なる設定ページに6 ~ 7つのサブページにアクセスする必要があり、かなり面倒です。

改善を経て、現在、複数のパラメータを1つのページで切り替えることができ、Lxのすべての関連パラメータを1つのテーブル内で設定することができ、一目で分かり、設定効率を大幅に向上させた。

3.TH 2840 AXTH 2840 BXTH 2840 NX足桁列を改良し、並列に初期モデルを設置して足桁を設置する場合、足桁と並列足桁を直列に接続する必要がある場合、それぞれ異なるサブページに入る必要がある。

改善された後、1つのページに直接足桁列並列を設定することができます

4.TH 2840 AXTH 2840 BX TH 2840 NX改良された多脚ビット入力方式トランス走査設定時には、常に1、2、3、4、5、6のような複数の連続脚ビット入力を入力する必要があるため、入力方式を改良し、習慣的な1 ~ 6のように連続方式入力を表す方式を用いて、表示ページを簡略化し、入力効率を向上させた。

5.TH 2840 AXTH 2840 BX TH 2840 NX走査パラメータごとに平均回数と遅延設定を増加して安定性を増加する

変圧器走査試験時には、一部のインダクタンス回路のインダクタンス量が大きいため、正確な数値を読むには一定時間の安定化を経なければならない。この場合、走査パラメータごとに平均回数と遅延設定を増加して安定性を増加させ、同時に他のパラメータの試験速度に影響を与えない

6.TH 2840 AXTH 2840 BX TH 2840 NX送り漏れ感設置方式を変更複数の巻線で漏れ感Lkをテストする場合、初期機器は絶えず対応巻線を切り替え、そして公称値と限界値を設置する必要があり、非常に面倒である。新世代はこの設置方式を改善し、直接同じ設置ページに異なる二次巻線の足位置と接続方式を設置でき、入力漏れ感ピンを省き、対応するピンに直接公称値を入力し、上下限でよい

7.TH 2840 AXTH 2840 BX TH 2840 NX平衡走査方式による多巻線変圧器の平衡試験時に、漏れ感を試験するように、初期機器は二次平衡脚位を絶えず切り替え、対応限界値を設定する必要があり、新世代はこの設定を改善し、すべての平衡設定項目を同じページで設定でき、初期平衡点数が最大5点の不足に対して、10点にアップグレードした

C.LCR測定機能

2.詳細な機能と指標はTH 2840シリーズLCRデジタルブリッジ技術パラメータを参照してください

TH 2840 AXTH 2840 BXTH 2840 NXアプリケーション

■スイッチングトランス走査試験、総合特性分析

■ネットワーク変圧器走査試験、総合特性分析

■ディスクリート受動素子（インダクタンスL、抵抗R、容量C）の多重走査試験

■リレー駆動線パック、接点接触抵抗多重走査試験

■多重直流抵抗DCR走査試験

■インピーダンスネットワークの複数の受動デバイスの総合テスト分析