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メール
wei.zhu@shuyunsh.com
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電話番号
17621138977
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アドレス
上海市松江区千帆路288弄G 60科創雲廊3号棟602室
束埋蔵計器（上海）有限公司
概要
D 8 ADVANCE粉末回折計はX線回折原理に基づいて、粉末状または多結晶材料の結晶構造を分析するための科学機器である。X線と試料の相互作用後に生じる回折パターンを測定することにより、材料の結晶構造、物相組成、格子パラメータなどの重要な情報を明らかにした。
製品詳細
製品：粉末回折計
モデル：D 8 Advance
産地：ドイツ
粉末回折計はX線回折原理に基づいて、粉末状または多結晶材料の結晶構造を分析するための科学機器である。X線と試料の相互作用後に生じる回折パターンを測定することにより、材料の結晶構造、物相組成、格子パラメータなどの重要な情報を明らかにした。
粉末回折計はX線回折原理に基づいて、粉末状または多結晶材料の結晶構造を分析するための科学機器である。X線と試料の相互作用後に生じる回折パターンを測定することにより、材料の結晶構造、物相組成、格子パラメータなどの重要な情報を明らかにした。
動作原理：
1、X線源：単色X線（例えばCuKα線、波長約0.154 nm）を発生し、粉末サンプルに照射する。
2、サンプル特性：粉末サンプルは無数のランダム配向の小結晶粒から構成され、すべての可能な回折方向がカバーされることを確保する。
3、回折条件：X線波長（λ）、結晶面間隔（d）と入射角（θ）がBragg方程式（鄒2 d sinθ＝nλ）を満たす場合、コヒーレント回折が発生し、回折ピークが発生する。
4、検出器：回折角（2θ）と強度を記録し、回折パターンを形成する。
ブルックAXS社の新しいD 8 ADVANCEふんまつかいせつけい創造的なダビンチ設計を採用し、TWIN-TWIN光路設計を通じて、BB集束幾何学下の定性定量分析と平行光幾何学下の薄膜すれすれ入射GID分析、薄膜反射率XRR分析の全自動切り替えを実現し、光を必要としない。革命的なTWISTUBE技術により、ユーザーは1分以内にライン光源応用（通常の粉末の定性定量分析、フィルムのGID、XRR）から点光源応用（テクスチャ、応力、マイクロゾーン）への切り替えを完了することができ、煩わしい光路交換、光再対などの問題はこれから歴史になる！
高精度の角計は全スペクトル範囲内の各回折ピーク（回折ピークではないことに注意）の測定ピーク位置と標準ピーク位置の誤差が0.01度を超えないことを保証することができ、ブルックAXS社は保証を提供する！
*のリンクスアレイ検出器は強度を150倍に高めることができ、装置の使用効率を高めるだけでなく、装置の検出感度を大幅に向上させることができます。
主な用途：
1、物相定性分析
2、結晶性及び非晶質相含有量の分析
3、構造の精密化と解析
4、物相定量分析
5、格子パラメータの正確な測定
6、無標識サンプル定量分析
7、ミクロひずみ解析
8、結晶粒サイズ分析
9、その場分析
10、残留応力
11、低角度メソポーラス材料測定
12、組織及びODF分析
13、薄膜すれすれ入射
14、薄膜反射率測定
15、小角散乱
技術指標：
Theta/theta縦型角計
2 Theta角度範囲：-110～168°
角度精度：0.0001度
Cr/Co/Cuターゲット、標準サイズライトパイプ
検出器：リンクスアレイ検出器、リンクスXEアレイ検出器
機器サイズ：1868 x 1300 x 1135 mm
重量：770 kg
TWIN/TWIN光路
ブルックが専属発明を獲得したTWIN-TWIN光路設計はD 8 ADVANCEの操作を大幅に簡略化し、多種の応用とサンプルタイプに適用できるようにした。ユーザーが使いやすいように、システムは4つの異なるビームジオメトリ間を自動的に切り替えることができます。このシステムは人工的な介入を必要とせず、Bragg-Brentano粉末の回折幾何学と不良形状のサンプル、コーティングとフィルムの平行ビーム幾何及びそれらの間を切り替え、しかも人工的な介入を必要とせず、環境下と非環境下で粉末、塊状物体、繊維、シートとフィルム（非晶質、多結晶とエピタキシャル）を含むすべてのタイプのサンプルを分析する理想的な選択である。
動的ビーム最適化（DBO）
ブルック独_のDBO機能はX線回折のデータ品質に新たな重要な基準を樹立した。モータ駆動発散スリット、散乱防止スクリーン、可変検出器ウィンドウの自動同期機能により、特に2°の角度が低い場合には、_の代わりのないデータ品質を提供できます。それ以外にも、LYNXEYEの全シリーズの検出器はDBO：SSD 160-2、LYNXEYE-2、LYNXEYE XE-Tをサポートしています。
リンクサイ XE-T
LYNXEYE XE-TはLYNXEYEシリーズの検出器の旗艦製品である。これは現在市販されているこの1つだけの0 D、1 D、2 Dデータを収集できるエネルギー分散検出器であり、すべての波長（CrからAgまで）に適用され、頂点の計数率とより良い角度分解能を持ち、すべてのX線回折と散乱応用の理想的な選択である。
LYNXEYE XE-Tは380 eVより優れたエネルギー分解能を持ち、実に優れており、市販の性能がより良い蛍光フィルタ検出器システムである。これにより、励起された鉄蛍光を強度損失ゼロで100%濾過することができ、金属フィルタを必要としないため、データには残存Kルツボや吸収エッジなどのアーティファクトも存在しません。同様に、強度を除去する2次モノクロメータを使用する必要もありません。
XRPD方法：
· 結晶相と非晶質相を鑑別し、サンプル純度を測定する
· 多相混合物の結晶相と非晶質相を定量分析する
· ミクロ構造解析（微結晶サイズ、微歪、無秩序…）
· 熱処理または加工製造アセンブリにより発生する大量の残留応力
· テクスチャ解析
· 指標化、abinitio結晶構造測定及び結晶構造精密化
分布関数の解析
分布関数（PDF）解析は、Braggおよび拡散（「総散乱」）に基づいて、無秩序材料の構造情報を提供する解析技術である。その中で、Bragg回折ピークを通じて、材料の平均結晶構造の情報（つまり長距離秩序）を理解することができて、拡散散乱を通じて、その局所構造（つまり短距離秩序）を特徴づけることができます。
分析速度、データ品質、およびアモルファス、弱結晶型、ナノ結晶またはナノ構造材料の分析結果について、D 8 ADVANCEとTOPASソフトウェアは、市販のより高性能なPDF分析ソリューションに取って代わった：
· 相同定
· 構造測定と仕上げ
· ナノ粒子サイズと形状
フィルムとコーティング
フィルムとコーティング分析ではXRPDと同じ原理を採用しているが、ビーム調整と角度操作機能をさらに提供している。典型的な例としては、相同定、結晶品質、残留応力、テクスチャ分析、厚さ測定、および成分およびひずみ分析が挙げられるが、これらに限定されない。フィルムとコーティングを分析する際には、nmとµmの間の厚さの層状材料の特性分析（アモルファスと多結晶コーティングからエピタキシャル成長フィルムまで）に重点を置いた。
D 8 ADVANCEおよびDIFFRAC.UITEソフトウェアは、以下の高品質な薄膜分析を行うことができる：
·すれすれ入射回折
· X線反射法
· 高分解能X線回折
· ぎゃくかんかくそうさ
