多孔性解析

多孔性解析

EFPscan平面CT（plane CTとも呼ばれる）は、PCBボードと電子デバイス向けのCT検出システムであり、2 D/2.5 D/3 D X-ray機能を持ち、オフライン検出とオンライン全検査が可能である。*進のComputed laminography（CL）スキャンモードとアルゴリズムを採用し、高速スキャンで鮮明な断層画像を得る能力を備えている。

走査速度が速い

プログラム可能な自動認識判定機能を備える

生産ラインと連携し、オンライン検査を実現できる

PCBボード、BGA、CSP、QFP、QFN

パワーデバイスIGBT

溶接開、浸潤なし、気孔、オフセット

多孔性解析

大型電子モジュールの欠陥検出と電子業界製品の品質制御の需要に対して、三次元階層イメージングの重要な科学問題を解決し、電子モジュールパッケージ、プリント配線板、高密パッケージなどの溶接品質の高精度自動無損検出を実現し、宇宙、航空、海パッケージ、陸装、戦略などの各種装備電子工学システムの製品鑑定と評価、破壊性物理分析（DPA）、製品技術品質鑑定などに応用し、装備の開発生産段階において、装備の開発開発過程において、製品設計、技術設計、材料導入過程による欠陥、例えばPCBの穴断、溶接点の枕効果、ひび割れ、BGAデバイスの半田ボール欠陥及び構造損傷など、電子製品の品質と信頼性レベルを高め、製品の研究開発設計と製造技術レベルを高め、電子製品の欠陥識別と分析能力を強化する。

*進のComputed laminography（CL）スキャンモードとアルゴリズムを採用し、高速スキャンで鮮明な断層画像を得る能力を備えている。