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Photonic lattice顕微鏡型応力複屈折計

ネゴシエーション可能更新05/07
モデル
メーカーの性質
生産者
製品カテゴリー
原産地

概要

PA-MicroはPhotonic Lattice社が発売した高精度顕微鏡複屈折と応力測定システムで、商用顕微鏡を搭載でき、0-130 nm位相差、光軸方位の満場高速定量測定を実現でき、精度は0.1 nm級に達し、Photonic lattice顕微鏡型応力複屈折計は測定結果を応力値に換算することを支持し、光学ガラス、TGV孔の内応力と複屈折分布分析に広く用いられ、高精度、面イメージングと使いやすさを兼ね備え、精密光学品質検査の核心設備である。

製品詳細

ナイロンバックル

Photonic lattice显微镜型应力双折射仪

このモデルは0 ~ 130 nmの低複屈折製品検出に適しており、500万画素の高解像度複屈折/位相差分布を高速に測定することができ、顕微鏡視野で複屈折を測定することができるシステムであり、付属の顕微鏡はオリンパスまたはニコンを選択することができる。

適用:

  • 通信ファイバ

  • 結晶

  • 繊維

  • 微小透明サンプル

技術パラメータ:

項次

プロジェクト

具体的なパラメータ

1

出力項目

位相差【nm】、軸方向【°】、位相差と応力換算(オプション)【MPa】


2

波長を測定する

520ナノメートル


3

複屈折測定範囲

0-130nm


4

最小解像度の測定

0.001nm


5

繰り返し精度の測定

0.1ナノメートル

6

視野寸法

142 x 170 umから3.5 x 4.2 mm
(×2,×5,×10,×20,×50)


7

オプションレンズ視野


8

オプション機能

リアルタイム解析ソフトウェア、レンズ解析ソフトウェア、データ処理ソフトウェア、外部制御を実現する


測定事例
Photonic lattice显微镜型应力双折射仪

北京欧屹科学技術は全シリーズの製品技術サポートを提供し、具体的な検査ニーズに基づいて一定の制化選択案を提供し、正確な応用シーンのマッチングを支援することができる。