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住所
深セン市宝安区松岡芙蓉東路9号桃花源科学技術革新園埼玉豊ビル22階AB
Shenzhen Tianrui Instrument Co., Ltd
概要
金メッキの厚さは当てられますか。EDXTHICK 800は0.005μmまで正確で、真偽の厚さは一目ではっきりしている！$r$nアクセサリー、マイクロゾーンの正確な位置決めを傷つけず、K金/メッキ/銀メッキのワンタッチ厚さ測定+成分測定！$r$nジュエリービジネスは長く、品質検査は欠かせません。EDXTHIKK 800がリピーターをロックしてくれます！$r$nお客様は証明書を必要としますか？EDXTHICK 800秒でデータが出て、専門度は直接満タンになります！
製品詳細
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EDXTHICK800天瑞計器（SKYRAY）が発売した上照式、全自動、高精度X線蛍光（XRF）めっき層厚測定器、工業精密検査設計、集膜厚試験、成分分析、RoHS検出一体となって、めっき、電子、ジュエリー、金物などの業界の核心品質検査設備である。
一、コアの位置づけと原理
デバイスタイプ：卓上エネルギー分散X蛍光分光器（XRF）
そくていげんり：X線を用いて試料表面を励起し、蛍光線エネルギーと強度を分析することにより、ロスレスめっき層の厚さと元素成分を計算する
コア競争力：ミクロンレベル精度、全自動位置決め、多層同期分析、一機多用
二、コア技術パラメータ
測定要素：成分分析（Alアルミニウム-Uウラン）、めっき分析（Liリチウム-Uウラン）
めっき能力：同時に≧5層めっき層を分析する、24種類の要素
厚さ範囲：0.005μm~50μm（従来のめっき層まで超薄型）
検出速度：5 ~ 40秒/サンプル（通常10秒出力）
プローブ：Fast-SDD半導体検出器（分解能140±5 eV）
X光源：100 W高出力マイクロフォーカスWターゲットライトチューブ
コリメータ：Φ0.1/0.2/0.3 mmなど（最小スポット0.1 mm）
サンプルテーブル：全自動XYZ 3次元プラットフォーム（X/Y行程 100mm×100mm）
ポジショニングシステム：デュアルレーザー位置決め+CCDビジョン（25～200倍拡大）
あんぜんせっけい：ダブル衝突防止保護（機械＋レーザー）
けいきすんぽう：485×588×505 mm
三、コア機能
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多層めっき層の正確な厚さ測定
どうきそくてい金、銀、ニッケル、銅、パラジウム、亜鉛等単層/多層/合金めっき層
解決深穴、ブラインド穴、異形部品、微小部品（例えばPCB端子、コネクタ）厚さ測定の難題
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成分と有害元素の分析
きんぞくそくてい純度、合金成分（K金、白金、パラジウムなど）
同期フィルタリング有害物質規制（鉛、水銀、カドミウム、六価クロム等）
