OMEC欧米グラムレーザー粒度分析器-Topsizer Plus

OMEC欧米グラムレーザー粒度分析器-Topsizer Plus

――中国粒度検査と分析技術の最前線の作品

Topsizer Plusレーザー粒度分析器は、広く評価されているTopsizerに続き、マルヴァンパナコの完全子会社として、珠海欧米克計器有限公司が発売したもう一つの高性能粒度分析計器である。この機器は先進的な光学設計を導入し、欧米グラムの30年近くの技術蓄積と結合し、グローバルなサプライチェーンシステムを採用し、レーザー回折法の試験範囲を0.01-3600 umに達し、現在の国産レーザー粒度計の最先端技術レベルを代表している。Topsizer PlusはTopsizerの距離が広く、再現性がよく、分解能が高く、真実試験性能が強く、知能化程度が高いなどの利点を維持し、光学設計、ハードウェアと反転アルゴリズムをさらに向上させることによって、その試験範囲と実際試験性能を広げ、化学工業、機械、建材、エネルギー、医薬などの現代工業の各分野に応用した。

リチウムイオン電池、製薬、水文、ファインケミカルなど多くの業界では、多くのユーザーが欧米グラムレーザー粒度計、特にTopsizerモデルを選択し、欧米グラムブランドと技術への信頼のほか、そのテスト結果が正確であるためだ。製薬用の原材料、製剤、リチウムイオン電池の正負極材料などにかかわらず、Topsizerシリーズ製品はテスト結果と分析能力が国内外、業界上下流の金基準と一致することを保証し、これはユーザーに方法開発と方法移転の時間とコストを節約するだけでなく、重要なのは粒度検査の不許可による経済損失とリスクを回避することができ、研究開発、過程制御、品質制御にかかわらず、ユーザーに本当の価値をもたらすことができる。

一、技術指標

1.測定範囲：0.01-3600μm（湿式法、サンプルによる）、0.1-3600μm（乾燥法、サンプルによる）

2.測定原理：全レンジミグ散乱理論

3.反復性差：≦0.5%（サンプルによる）

4.精度差：≤±0.6%（サンプルによる）

5.測定速度：通常の測定は10秒以内に完了

6.注入方式：

湿式自動化試験*、注入器は輸入モーター付きの大出力精密遠心ポンプを採用し、攪拌速度は4000回転/分に達することができ、内蔵超音波、いずれも無段連続調整可能である（*SCF-105 Bを配合する場合）、

乾式自動化試験*、サンプラー分散作動圧力0.05-0.6 MPaは無段連続調整可能、圧電セラミック結晶振動サンプリング速度は無段連続調整可能である。（*DPF-110の場合）。

7.光路システム：

入口ヘリウム−ネオンレーザを用いた二光源設計、波長0.6328ミクロン、また、半導体青色光源、波長0.466ミクロンがあり、ナノスケール粒子及び少量の大粒子に対する分解能を効果的に高めた。レーザーパワーは常に安定しており、パワー変動は0.5%未満である。

計器の設計は国際レーザー安全規範に符合し、レーザービーム自動防護機能を備えている、

一体式高精度全アルミニウム合金光学プラットフォームを採用し、長期的に安定で信頼性がある、

単レンズ設計で、レンズ後フーリエ変換構造を採用している。光路システムは完全に閉鎖され、粉塵汚染問題を効果的に解決する。

プローブは自動的に対中します。

8.検出器：

検出チャンネル数103個、順方向、横方向、大角度と後方向光検出器からなる三次元立体検出システム、検出角範囲は0.016-140度、無盲点。

9.ソフトウェア機能：

豊富なカスタムレポート機能、ユーザーの柔軟なデータ取得とレポートスタイルの定義を容易にする、

ソフトウェア設計のモジュール化、計器状態の可視化、操作インタフェースの人間化、

SOP標準操作フロー機能を備える、

多種のデータ分析モデル、異なる特性サンプルのテスト需要を満たす、

ナビゲーション機能を備えた明確で明瞭なプロセスインタフェース、

人工知能を備え、計器は自己検査機能を備え、自動的に注入システムを識別する、

測定前に自動的に電気背景を測定することができ、電気ノイズが試験結果に与える影響を効果的に減少する、

多種の方式の測定データの導出、データ交流を便利にする、

完備、開放的なサンプル特性パラメータデータベースは、常用サンプルの屈折率と吸収率パラメータを持つ、

体積分布、表面積分布、長さ分布、数量分布の間で相互に変換することができます。

GMP添付ファイル『コンピュータ化システム』の要求に合致するソフトウェアソリューションを提供し、ユーザーの等級分け、権限管理、データの完全性及びトレーサビリティ機能を備える。

10.外観寸法：

本体：1330×266×380 mm

循環サンプラ：240×380×370 mm（SCF-108 A）、210×260×345 mm（SCF-105 B）

ドライサンプラ：305×245×295 mm（DPF-110）

二、OMEC欧米グラムレーザー粒度分析器-Topsizer Plus動作原理：

1本の平行光が伝播中に障害物粒子に遭遇すると、光波は散乱（回折）偏向を起こし、偏向の角度は粒子の大きさと相関し、散乱（回折）現象は「Mie散乱理論」によって記述することができる。粒子径が大きいほど光波偏向の角度が小さくなる、粒子径が小さいほど、光波の偏向角度が大きくなる。レーザー粒度分析器は粒子による光の散乱現象を利用して、散乱光エネルギーの分布から測定粒子の粒度分布を推定する。

欧米グラムは国内外から源を発する先進技術を結合し、光学、アルゴリズム、機械、電子、コンピュータなどのシステムの統合と最適化を通じて、欧米グラムレーザー粒度計に再現性が良好で、動態測定範囲が広く、操作が簡単で便利であるなどの利点を備えさせた。

三、先進的な光学系

デュアルライト技術

Topsizer Plusレーザー粒度分析器は二光源設計を採用し、赤光主光源は輸入ヘリウム−ネオンレーザーで、波長0.6328μm、半導体青色光補助光源、波長0.466μmを有し、ナノスケール粒子及び少量の大粒子に対する分解能を高めた。国産レーザー粒度分析器において、赤と青の2色光源技術は欧米グラムに採用されている。

インレット高性能ヘリウムネオンレーザ及び電源

長寿命、低騒音、高安定性で知られる輸入ブランドのヘリウムネオンレーザとセットレーザ電源を採用し、機器に理想的な光学品質偏光光源を提供する。ガスレーザ自体がもたらす安定した波長に加えて、Topsizer Plusレーザ粒度分析器が採用した高性能光源システムは同時に電力安定、予熱時間が短く、偏光比が高く安定しており、モード純度が高いなど高性能レーザ粒度計に必要な光学特性を備えている。機器が異なる動作環境で安定した動作を維持し、定格する必要のない正確な性能をもたらすことを確保します。

直線光路設計

Topsizer Plusレーザー粒度分析器の光路システムは密閉式直線光路設計を採用し、光学部品の余分な反射による迷光がなく、粉塵汚染の妨害もなく、同時に高精度の全アルミニウム合金光学プラットフォームを採用し、光路の安定した信頼性を確保した。

後フーリエ変換一眼レフ設計

単一レンズ設計で、レンズ後フーリエ変換構造を採用し、フーリエレンズの瞳制約を突破し、散乱光受信角がフーリエレンズの口径制限を受けないようにした、また、単レンズ光路における屈折、反射面が減少し、機器動作時の背景雑音をさらに低レベルに低下させ、機器測定時の信号雑音比を向上させることができる。

長焦点距離のフーリエレンズ

Topsizer Plusレーザー粒度分析器は長い焦点距離を持つFourierレンズを選択し、これにより測定窓から光検出器平面までの距離（つまり有効焦点距離）を増加させ、それにより光検出器がより小さな散乱角度の散乱光信号を正確に検出することができ、装置の大粒子に対する試験能力を大幅に増強し、装置の測定上限は3600μmに達した。

合理的に分布し、高感度の輸入光検出器

Topsizer Plusレーザー粒度分析器光検出器は特殊にカスタマイズされた輸入光検出器であり、器具が高い分解能力と感度を持つことを確保する。検出チャンネル数は103個に達し、前方、側面、大角度と後方光検出器から三次元立体検出システムを構成し、検出角範囲は0.016-140度です。青色光散乱信号を結合し、空間全角度範囲の散乱光エネルギー信号のシームレスな受信を実現し、粒子散乱光エネルギー情報の全面的かつ正確な取得を効果的に保証した。

インテリジェント自動対中

インテリジェントソフトウェア制御自動対中システムは正確な光学対中を保証した。自動対中は数十秒以内に完了し、自動測定の一部としても、画面上でマウスをクリックしても完了します。インテリジェント自動対中システムは、複数回の測定の繰り返し性を保証している。

優れた分散システム

SCF-108 A循環注入器を標準装備し、ランタンヘッド下圧式水流循環回路設計を採用し、大電力正確自動制御攪拌モーターを搭載し、回転速度は3500回転/分に達すると同時に気泡と液体飛散の発生を減少し、良好な分散、洗浄、排乾エネルギー力を有する。電力が50 Wまで大きい管路超音波装置を内蔵し、超音波強度は無段階で連続的に調整できる。1000ミリリットルのサンプルプールを標準装備しており、お客様のニーズに合わせて容量を変更することができます。

必要に応じて、より多くの異なる特性（例えば、微量、微量サイクル、耐食性など）の湿式注入器を選択することができる。

乾式サンプリングシステム：標準装備DPF-110自動乾式サンプリング装置、分散気圧0.05-0.6 MPa無段調整、三重調整可能原料機

構造設計は、各種サンプル試験の分散強度に対する要求に適応することができる。分散圧センサと負圧センサを内蔵

器、試験窓は完全に密閉され、負圧保護装置を備え、効果的に窓と本体の汚染を防止することができる。

四、強力な分析ソフトウェア

豊富なカスタム・レポート機能により、ユーザーが柔軟にデータを取得したり、レポート・スタイルをカスタマイズしたりするのに便利です。

ユーザーはレポートのタイトル、Logo，レポートに表示されるモジュールを選択し、これらのモジュールを設定します。行数、列数、座標軸範囲、レポート内容、パラメータなどを調整できる場合は、必要に応じて設定できます。

ソフトウェア設計のモジュール化、機器の状態の可視化、操作インタフェースの人間化。プロセスインタフェースが明確で、ナビゲーション機能があります。

計器は知能化自動化操作を備えている。セルフテストと自動認識サンプリングシステム、測定前に電気背景を自動的に測定することができ、電気ノイズが試験結果に与える影響を効果的に減らすことができる。自動サンプリング装置を配置することで全自動乾湿法の粒度試験を行うことができ、手動サンプリングにも明確なナビゲーション試験機能がある。

SOP標準操作フローを備え、人為的要因の影響を減らし、分析テストフローを標準化する。

SOP測定プログラムの編集と実行：

さまざまなデータ分析モデルがあり、異なる特性サンプルのテストニーズを満たしている。体積分布、表面積分布、長さ分布、数量分布の間で相互に変換することができます。ユーザの必要に応じて粒径セグメントを設定することができる。

完全で開放的なサンプル特性パラメータデータベースであり、常用サンプル屈折率と吸収率パラメータを有する。

多様な方式の測定データを導き出し、データ交流を便利にする。

CFDA/FDA cGMP 21 CFR要件に準拠したユーザー階層化、権限管理、データ完全性、トレーサビリティ機能

五、良好な計器性能

Topsizer PlusのTopsizerのアップグレードにおける重要な特徴の1つは、0.02～2000 umセグメントのデータがTopsizerと一致するように保持されていることです。光路、ハードウェア、アルゴリズムのアップグレードにより、試験範囲を0.01～3600 umにさらに向上させた。

広い測定範囲

市場で他の異なる技術を用いて接合を通じた方案による試験範囲の向上と異なり、Topsizer Plusの実測範囲は0.01-3600 umであり、静止光散乱の1つの技術を用いてサブミクロン粒子からミリメートル級粒子までの検査を実現し、GBT 19077-2016粒度分析レーザー回折法の国家基準の要求に厳格に符合し、そして異なる粉体業界の粒子粒度検査と制御に対する各種の需要を満たすことができる。

こうぶんぷサンプル

大きな粒子に対して強い試験能力を持つ

7-14メッシュガラス微小ビーズ

ナノメートル、サブミクロンなどの超微粒子に対して良好な識別能力を備えている

100nmラテックス

優れた識別力

Topsizer Plusはサンプル中の粒子分布の微小な変化を正確に測定することができ、サンプルの実際の粒度分布を正確に反映し、技術研究と品質制御の需要を満たすことができる。図中の混合物サンプルは5.1 um/14 um/37.8 um標準サンプルで比例して配置されている。

良好な再現性

Topsizer Plusは全自動のレーザー補正システム、自動対中システムを採用し、それによってレーザー角度の校正の精度を確保し、光路のドリフトを回避し、テストの繰り返し性差が0.5%未満（標準粒子D 50）であることを確保した。

良好な再現性
異なるホストまたは異なるサンプラ間の再現性が良好です。

迅速なテスト速度
Topsizer Plusの優れた高速分散システムは機器の高速テストに良好な前提を提供し、通常のテストを10秒以内に迅速に完了させ、テストの効率を大幅に向上させ、ユーザーのニーズをよりよく満たした。

高感度
最大103個の光電検出チャンネルがあり、二光源及び前方、側面、大角度、後方光検出器から三次元立体無盲点検出システムを構成し、検出角度は140度に達することができる。テストのたびに、ソフトウェアは信号騒音度を自動的に検出し、機器は大小粒子の微小な変化に対して良好な感度を持っている。

優れた適応性
超高密度の金属粉末、ガラス粉末に対しても沈殿せずに良好な分散効果があり、さまざまな密度の粒子粒度試験のニーズを満たすために、強力な分散能力を持つ分散システムを選択できます。

六、技術指標
1.測定範囲：0.01-3600μm（湿式法、サンプルによる）、0.1-3600μm（乾燥法、サンプルによる）
2.測定原理：全レンジミグ散乱理論
3.反復性差：≦0.5%（サンプルによる）
4.精度差：≤±0.6%（サンプルによる）
5.測定速度：通常の測定は10秒以内に完了
6.注入方式：
湿式自動化試験*、注入器は輸入モーター付きの大出力精密遠心ポンプを採用し、攪拌速度は4000回転/分に達することができ、内蔵超音波、いずれも無段連続調整可能である（*SCF-105 Bを配合する場合）、
乾式自動化試験*、サンプラー分散作動圧力0.05-0.6 MPaは無段連続調整可能、圧電セラミック結晶振動サンプリング速度は無段連続調整可能である。（*DPF-110の場合）。
7.光路システム：

入口ヘリウム−ネオンレーザを用いた二光源設計、波長0.6328ミクロン、半導体青色光源、波長0.466ミクロンを有し、ナノスケール粒子及び少量の大粒子に対する分解能を高めた。レーザーパワーは常に安定しており、パワー変動は0.5%未満である。
計器の設計は国際レーザー安全規範に符合し、レーザービーム自動防護機能を備えている、
一体式高精度全アルミニウム合金光学プラットフォームを採用し、長期的に安定で信頼性がある、
単レンズ設計で、レンズ後フーリエ変換構造を採用している。光路システムは完全に閉鎖され、粉塵汚染問題を効果的に解決する。
プローブは自動的に対中します。
8.検出器：
検出チャンネル数103個、順方向、横方向、大角度及び後方向光検出器からなる三次元立体検出システム、検出角範囲0.016-140度、ブラインドがありません。
9.ソフトウェア機能：
豊富なカスタム・レポート機能により、ユーザーが柔軟にデータを取得したり、レポート・スタイルを定義したりするのに便利です。
ソフトウェア設計のモジュール化、計器状態の可視化、操作インタフェースの人間化、
SOP標準操作フロー機能を備える、

多種のデータ分析モデル、異なる特性サンプルのテスト需要を満たす、

ナビゲーション機能を備えた明確で明瞭なプロセスインタフェース、

人工知能を備え、計器は自己検査機能を備え、自動的に注入システムを識別する、

測定前に自動的に電気背景を測定することができ、電気ノイズが試験結果に与える影響を効果的に減少する、

多種の方式の測定データの導出、データ交流を便利にする、

完備、開放的なサンプル特性パラメータデータベースは、常用サンプルの屈折率と吸収率パラメータを持つ、

体積分布、表面積分布、長さ分布、数量分布の間で相互に変換することができます。

GMP添付ファイル『コンピュータ化システム』の要求に合致するソフトウェアソリューションを提供し、ユーザーの等級分け、権限管理、データの完全性及びトレーサビリティ機能を備える。

10.外観寸法：

本体：1330×266×380 mm

循環サンプラ：240×380×370 mm（SCF-108 A）、210×260×345 mm（SCF-105 B）

ドライサンプラ：305×245×295 mm（DPF-110）