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Shenzhen Zetuo Biotechnology Co., Ltd
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OFET試験ウェハS 181オシラ試験ウェハS 182プロキシオシラ

ネゴシエーション可能更新06/27
モデル
メーカーの性質
生産者
製品カテゴリ
原産地

概要

OFETテストウェーハS 181 OssilaテストウェーハS 182代理Ossila$r$nOssilaメーカ直接注文、*、納期正確、新旧顧客歓迎!!

製品詳細

動物実験研究などにのみ使用

Low density bottom gate bottom contact prefabricated FET substrate低密度FET基板を作製した。

OFET試験ウェハS 181オシラ試験ウェハS 182プロキシオシラ

概略図

一定チャネル長設計

OFET試験ウェハS 181オシラ試験ウェハS 182プロキシオシラ

Low density FET substrate mask dimensions (constant channel length)一定チャネル幅低密度FET設計。

可変チャネル長設計

Low density OFET substrate mask dimensions (variable channel length)可変チャネル幅低密度FET設計。