非接触レーザ熱膨張計

熱膨張計は主に光干渉法膨張計と機械熱膨張計に分けられ、光干渉法は光学非接触、絶対測定、測定精度が高い。しかし、コストが高く、機器の構造や操作が複雑である。機械式法熱膨張計の利点は、使いやすく、構造が簡単で様々な形状のサンプルなどに適用できることである。欠点は、機械式熱膨張計は試料ホルダ、検出レバーなどの介在物の影響を受けるため、これらの介在物が校正用標準試料の絶対精度と誤差に与える影響を回避することができないことである。

スーパーLIX-R非接触法によるレーザ熱膨張システムの概要

Super LIX-R非接触レーザ熱膨張計システムは線形偏向ヘリウムネオンレーザを用いた二光路型マイケルソン干渉計の高感度非接触型熱膨張計である。この高精度膨張計は、試料の両端に接触する反射面間の変位をレーザ波長に基づいて絶対熱膨張測定を行う。

当該測定方法はJIS（JIS R3251-1995）の低膨張ガラスの熱膨張係数測定方法は、5ppb/℃（すなわち5 x 10^-9K）レベルのゼロ膨張材料の測定、実際のサンプル試験結果の分析により：30℃時に3回測定した熱膨張係数はそれぞれ：5 x 10^-9/K、 4 x 10^-9/K、 4 x 10^-9K、10℃，20℃，30℃，40℃，50℃の再現性はいずれも優れている5 x 10^-9K（詳細は第36-41ページ）

特徴：

1）システム内部に防振機構を組み込むことにより、振動干渉の影響を防ぐことができ、安定した使用環境下で一般的な分析電子天秤（分解能0.01 mg)を測定します。

2）レーザ波長（632.8ナノメートル）サンプルの変位を測定する。光学素子の最適化により迷光が除去され、エッジ信号の信号対雑音比が向上する。特殊変位較正には測定や操作は必要ありません。

3）イメージセンサは干渉縞を検出し、画像を処理し、膨張率を計算する。

4)絶縁構造のクライオサーモスタットを用いてサンプルとサンプルの周囲領域の温度を制御することにより、温度を毎分に制御することができる0.01℃。

5)自動サンプル設置治具は安定したサンプル設置を実現でき、オペレータが特別な訓練を受ける必要はない。

治具のサンプル設定は手動です。

スーパーLIX-Rパラメータ:

温度測定範囲：0~50℃（高精度恒温循環システムを採用）

熱膨張検出システム：マイケルソン型レーザ干渉計

光路：

サンプルサイズ：Φ5 mmまたはΦ5±0.5 mmx長さ12-20 mm

標準サンプルサイズ：φ5mm x長さ20mm

両端は行うべきである特別引出権（球形）先端が不均一にならないように処理する。

表面平均粗さ：平均粗さがより優れている0.8a

測定精度：共通テーブル式値5x10^-9/Kまたはそれ以下（標準寸法に基づく低膨張材料）

再現性：共通テーブル式値5x10^-9/Kまたはそれ以下（標準寸法に基づく低膨張材料）

解像度:＜0.2ナノメートル

表示：パターン強度

レーザー：レーザータイプ：He Neガスレーザ

パワー5 mW（IEC 60825-1 3 B級）

光源の波長：632.8ナノメートル

熱電対：PT-100西暦1604-1997年

低圧彼（100Pa）

昇降温度速度：0.01℃/min ~ 1.5℃/min

高精度テスト推奨使用0.1℃/分

温度表示分解能：0.001℃

温度測定精度：精度適合JIS A級（0°Cの場合±0.15°C）