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ナノ粒子サイズ及びZeta電位計

交渉可能更新01/16
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概要
ナノ粒子サイズ及びZeta電位計はレーザを通じてビームを放射してナノ粒子を照射し、粒子のブラウン運動は散乱光強度の時間変動をもたらした。アバランシェフォトダイオードなどの検出器による収集90光信号を散乱し、自己相関関数により光強度変動周波数を分析し、粒子の拡散係数を導出し、ストークス・アインシュタイン方程式に基づいて粒径分布を計算した。
製品詳細

ナノ粒子サイズ及びZeta電位計レーザ発光ビームによるナノ粒子の照射により、粒子のブラウン運動は散乱光強度の時間変動をもたらす。アバランシェフォトダイオードなどの検出器は90°散乱光信号を収集し、自己相関関数を通じて光強度変動周波数を分析し、粒子の拡散係数を導出し、ストークス・アインシュタイン方程式に基づいて粒子径分布を計算する:

d=kT3πDd=3πηDkT
ここで、ddは粒径、kkはボルツマン定数、TTは温度、ηは溶液粘度であり、DDは拡散係数一部の機器はSLS技術を結合し、異なる角度の散乱光強度を測定することにより、粒子サイズと分子品質をさらに検証する。

二、Zeta電位測定原理

ナノ粒子サイズ及びZeta電位計電場の作用の下で、荷電粒子は電気泳動移動を発生する。計器は粒子の移動速度を検出し(通常12°検出器を用いて散乱光信号を収集する)、位相分析光散乱技術(PALS)を結合して電気泳動移動度を計算し、ヘンリー方程式を通じてZeta電位に変換する。

    ζ=μεf(κa)ζ=ε・f(κa)μη
    ここで、ζζはZeta電位、μμは電気泳動移動度、εεは誘電率、f(κa)f(κa)はヘンリー関数である(粒子形状及び電気二重層厚に関連する)。

    • Zeta電位は粒子表面せん断面の電位差を反映し、その数値はコロイド安定性と直接関連している:絶対値が高いほど、系は安定である。

    • ナノ粒子サイズ分析器は粒子のサイズと分布を測定するための装置であり、通常は光学顕微鏡や電子顕微鏡を用いて画像収集を行い、専門のソフトウェアを用いて分析を行う。

    • 2.使用手順

    • 1)サンプルを分析器に入れ、必要なパラメータを設定する。

    • 2)画像収集を行い、サンプルの粒子画像を取得する。

    • 3)ソフトウェアを用いて粒度分析を行い、粒子の大きさ、形状、分布などのパラメータを測定する。

纳米粒度及Zeta电位仪