かび試験箱

かび試験箱適用範囲

密閉された空間内に相応の温度、湿度を設置し、風速、カビを4-6時間程度で成長させ、人工的にカビの繁殖を加速させるためのものとして、電工電子製品のカビ抵抗能力とカビ発生程度を審査する本装置はGJB150.10A-2009JY設備実験室環境試験方法カビ試験及び電気工学用電子製品部品、絶縁材料、医学研究、通信設備進頭取のカビ試験、細菌成長試験の実験室設備、人工的にカビの成長、細菌培養環境気候をシミュレーションすることができ、かねつしつどへんちょうかのう化し、カビ試験を加速させて電工器材、塗料の抗カビ能力及び細菌培養、発酵、育種などの試験を審査する。

基準を満たす：

GB10588-2006年かび試験箱技術的条件

GJB 4.10艦船電子機器環境試験カビ試験

GB 2424.9-90電工電子製品基本環境試験規程カビ発生試験ガイドライン

GJB 150.10 A-2009 junyong装備実験室環境試験方法カビ試験

GB T 2423.16-2008電工電子製品環境試験第2部試験方法試験Jとガイドにカビが生えた

主な技術パラメータ：

1.温度範囲：+10 ~+80℃

2.温度変動度：±0.5℃

3.温度偏差：±2.0℃

4.風速範囲：0.5-10 m/s

5.正常昇温時間：＋10℃～＋80℃30 min未満

6.鮮風システム：自/手動換気

7.滅菌装置：紫外線滅菌

8.湿度範囲：30%~ 100%RH

9.湿度変動度：±1%RH

10.湿度均一度：±3.0%RH

11.オプション付属品：温湿度記録計、マイクロプリンタ（オプション）

構造マテリアル：

1.内箱材質：SUS 304#鏡面ステンレス板

2.外箱の材質：SUS 304##ステンレス板/特殊防錆理冷間圧延板スプレー焼付け塗料

機種および動作寸法：（オプション）

ZT-CTH-150 MW幅50 XH高さ60 XD奥行き50 cm

ZT-CTH-225 MW幅60 XH高さ75 XD奥行き50 cm

ZT-CTH-306 MW幅60 XH高さ85 XD奥行き60 cm

ZT-CTH-408 MW幅60 XH高さ85 XD奥行き80 cm

ZT-CTH-1000 MW幅100 XH高さ100 XD奥行き100 cm