レーザ回折粒度分析器

ベックマンクルトの次世代LS 13 320 XRはレーザー回折粒度分析をより高いレベルに引き上げ、PIDS技術（番号：4953978、5104221）、最適化された132個の検出器をアップグレードし、機器の解像度がより高く、結果がより正確で、再現性がより良いことを保証した。より広い粒径範囲の粒子を測定することができるだけでなく、粒子の粒径間の極めて微細な違いをより迅速に検出することができます。PIDS技術、10 nm粒径測定を真に実現する、新型の乾式、湿式注入モジュール、「プラグアンドプレイ」は、異なる分析要求を満たし、柔軟で便利である、直感的なソフトウェアとタッチスクリーン設計により、機器の操作が大幅に簡略化され、数回クリックするだけで必要なデータを得ることができます。LS 13 320 XRが測定の新しい体験をお届けします！
レーザ回折粒度分析器主な特徴
•ISO 13 320技術規格より優れている
・FDAの21 CFR Part 11準拠
•検出器の数がより多く、132個の独立物理位置検出器に達し、136個の真実データチャンネルに対応し、異なる粒度等級間の散乱光強度スペクトルの差異を明確に区別でき、少しも情報を漏らさず、迅速で正確な真実粒度測定を確保できる。
•設計された「X」型対数配置検出器アレイは、単峰、多峰にかかわらず、正確に粒度分布を分析するために、散乱光強度信号を正確に記録することができる。
•全自動演算分析機能、多峰自動検出、事前に峰型を推測する必要がなく、分析モデルを選択する必要がなく、客観的な報告を提供する。
•アップグレード版PIDS技術は革新的な高解像度ナノ粒子サイズ分析機能を提供し、本当に10 nm下限ピーク測定を実現する。
•PIDS技術は10 nm未満の粒子を直接検出できるだけでなく、ナノスケールのマルチピーク分布を直接検出することもできる。
•ナノ分析機能とミクロン分析機能を統合し、強力な機能を備え、真の10 nmの測定は独立した高解像度ナノ粒子サイズ分析器として使用することができる。
•次世代固体レーザー光源、予熱不要、7万時間以上の電源投入寿命。
•並列信号収集と伝送により、信号が高い信号対雑音比、時差、高スループットを維持することを確保する。
•多波長及び偏光解析技術により、広いダイナミックレンジにおける粒度分布の正確性解析が高度に保障される。
•多種の自動化サンプル分散システム、「プラグアンドプレイ」、数秒で切り替えが完了でき、効率的で便利である。
•次世代タッチスクリーンはADAPT分析ソフトウェアを設計し、操作がより直感的で、操作経験が必要なく、簡単な3ステップで測定を完了し、直感的に目立つナビゲーションホイールは、データの表示と導出を1ステップで実現する。
•ADAPTソフトウェアは測定結果に対して自動的に緑色または赤色、自動合格/不合格管理を行い、直接品質制御を実現する。
•ソフトウェアには強力な光学パラメータデータベースがあり、革新的な「Zero-Time」インスタント光学モデルシステムがあり、1秒で新しい光学モデルを構築でき、客観的で正確な分析報告を提供する。
•機器には自己診断機能が備わっており、テスト中に測定状況が随時表示される。
技術パラメータ：
•粒径範囲：10ナノメートル～3500ミクロン（ピーク）
•主光路レーザ光源：光ファイバ接続固体レーザ
•検出器：132個の独立物理角度検出器
•リアル分析チャネル：136
•多波長測定：475 nm、613 nm、785 nm及び900 nm
•光学理論モデル：全過程Mie理論、Fraunhofer理論
•精度誤差：＋/-0.5%未満
•再現性誤差：＋/-0.5%未満
レーザ回折粒度分析器応用優勢：
•食品添加物、土壌、沈殿物、接着剤、合金、金属粉末、薬物、鉱物、紙などの応用分野に広く応用されている。
•土壌、堆積物に特化した大容量設計–標準試料台――1500 mLまでの容量を有し、広い分布試料の代表性、正確性及び重複性を高める
√自動知能洗浄、自動給排液、循環速度調整可能
√内蔵サンプルの超音波処理により、安定で信頼性の高い分散を達成する
•含有量の少ない微粒子成分（粘粒、微粉砂）と粗粒子成分の検出効果が理想的で、全自動操作が簡単