日本電子IT 210走査電子顕微鏡

データ収集が簡単！

JSM-IT 210走査型電子顕微鏡日本の電子製で最も小型の着地型走査電子顕微鏡である。

5軸モータ駆動により操作がより安心かつ迅速になる、また、「Simple SEM」が搭載されているため、マイクロゾーンを選択するだけで自動的に観察・分析することができます。

JSM-IT 210は、コンパクトで無人で操作できる次世代SEMです。

主な特徴

1. 安全で簡単なサンプル交換ナビゲーション

①ナビゲーション指示に従ってサンプルを入れる

②真空引きの隙間を利用した観察準備

③自動観察開始

2. 光学画像の拡大不要、SEM像「Zeromag」連動

「Zeromag」は試料台の概略図、光学画像とSEM像の連動機能であり、試料台に複数の試料を置いたり、特定の位置を観察したりすると、観察する領域を見つけやすくなる。

3. 観察中にリアルタイムで要素解析を行う「Live Analysis」

「Live Analysis」は、フィーチャX線と要素面の分布をリアルタイムで表示する機能で、観察しながらターゲット要素を探すことができます。

4. 多彩な自動テスト「Simple SEM」機能

「Simple SEM」は、観察エリアを設定するだけで自動撮影を行う機能です。

5. 強力な自動テストサポート機能

高精度サンプル台のアシスト自動試験。試料台の位置精度の向上により、多点多域の連続試験と自動試験がより実用的になる。

6. 標準搭載60 mm²大口径EDS、分析速度が速い

*従来のEDSと同じ質量のスペクトルを短時間で得ることができ、同時に多点分析を効率的に行うことができます。

*熱敏感サンプルでも安心してテストできる

従来のEDS技術では分析に大電流が必要であり、熱に敏感なサンプルは熱損傷によって変形し、元素面分布の分析に影響を与える可能性がある。

60ミリメートル²のEDSは、照射電流量を下げることで元素面分布を得ることができ、これにより熱損傷を低減し分析することができる。

*短時間でもJSM-IT 210走査型電子顕微鏡は明瞭な元素面分布図を得ることができる

60ミリメートル²のEDSを1分だけ測定しても、十分に明確な元素面分布図を得ることができます。