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ICチップ共平面度試験器

交渉可能更新01/11
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
ICチップ共平面度テスタピンの共平面性とは、デバイスピン底面が同一平面にない場合を指す。一般に、素子リードからピン底面が決定された平面からの距離で表される。ピンの共平面性の問題は、主にQFP、BGA、コネクタなどのマルチピンのデバイスに関連している。
製品詳細

ICチップ共平面度試験器の仕組み

測定器の動作原理:被測定ワーク(作業台上に置く)はLED表面光或いは輪郭光(台座内にある)によって照明された後、ズーム距離対物レンズとカラーCCDカメラカバー内を通じて被測定部品の映像を摂取し、更にS端子を通じてコンピュータ及びディスプレイ上に転送し、ソフトウェアがディスプレイ上で発生したビデオ十字線を基準として、それを照準測定し、作業台を通じて光学尺を動かし、X、Y方向に移動し、空間の各点座標値を取り、アダプタからコンピュータにカードし、測定座標値を幾何演算し、各種データ測定作業を完成する。

IC芯片共面度测试仪

ICチップ共平面度試験器の応用分野

本装置は測定ソフトウェアを採用し、エネルギー率の測定各種形状の複雑なワークの輪郭と表面形状、1、部品の共平面性試験、ピン変位検出、ピン高さ誤り検出、ピン面積測定、直径、角度、不規則面積測定、ハンドホイール調整可能格子、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統計例えばテンプレート、プレス、カム、成形フライスなどの各種工具、工具と部品、及び端子、時計、ダイヤモンドなどの生産。

応用分野

本装置は測定ソフトウェアを採用し、エネルギー率の測定各種形状の複雑なワークの輪郭と表面形状、1、部品の共平面性試験、ピン変位検出、ピン高さ誤り検出、ピン面積測定、直径、角度、不規則面積測定、ハンドホイール調整可能格子、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統計例えばテンプレート、プレス、カム、成形フライスなどの各種工具、工具と部品、及び端子、時計、ダイヤモンドなどの生産。



IC芯片共面度测试仪



機器の特徴:

1、テーブルのコア部品はすべて製品を採用し、機械全体は厳格で、規範的な組立と調整を経て、機械全体は24時間の恒温間で300時間無停止運転負荷テストを経た。

2、オートコリメータはテーブル本体テーブルの組み立て技術を校正し、機械空間測定の高精度を保証する。

3、作業台、厳格な熱処理時効を経て、長期使用は基準面が変形せず、ガイドレールの運行精度が安定していることを保証する。

4、山東済南青「00」級花崗岩台座を採用し、機械システム*の安定性を保証する。

5、高精密V型クロスガイドを採用し、計器*の機械精度を保証する。