日立S-3700 N走査電子顕微鏡

交渉可能更新02/10

モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

日立S-3700 N走査電子顕微鏡

製品詳細

製品の概要
走査電子顕微鏡（SEM）は現在、広範な企業単位に広がっており、学術研究分野だけでなく、各業界で広く応用されており、この傾向に対応して、ユーザーが観測と分析を必要とするサンプルの種類も拡大している。S-3700 Nの開発は上述の広範な多元化応用の需要を完全に考慮したものであり、この製品の標準的な配置は1つの2次電子検出器、1つの5段分割後方散乱電子（BSE）検出器と可変圧力（VP）モードを含む。
これにより、ほとんどのサンプルの観測が可能になり、従来の走査電子顕微鏡に必要だった金属スプレーを除去し、自然な状態で直接水性サンプルを観察することができる。
S-3700 Nには直径300 mmと高さ110 mmのサンプルを収容できる巨大なサンプル室があります。サンプル室には多種の部品ポートが設置されており、電子顕微鏡の現在の極めて広範な応用需要に適応することができ、これらの部品はEDX、WDX、EBSD、サンプル室監視装置、コールドテーブルなどを包含する。この製品の多機能性と柔軟なシステム構成により、現在および将来のニーズに対応できます。
製品の特徴
特大型のサンプル室には最大直径300 mmのサンプルを積載することができ、EDX/WDX/EDSDなどの部品を同時に取り付けることもできる。それはサンプルを載せることができる高さは110 mmに達することができる。
5軸モータ駆動優中心傾斜、回転、画像ナビゲーションシステム、試料台追跡、軌跡記憶と中心リセットなどの試料台のモータ制御機能はすべてそろっている。
S-4800、SU-70及びS-3400 NはいずれもユーザーフレンドリーなGUI設計を有しており、これにより操作者は簡単な訓練を経て操作できるようになった。
表示システムには全画面表示、フリッカーなし、高画素とリアルタイム画像表示などの優れた性能があり、リアルタイム信号を混合し、2つの異なる検出器で観測された互いに異なるサンプル情報を同時に表示することもできる。
可変電圧モードでは金属溶射を必要とせず、非導電性試料を直接観察することができる。
高感度半導体後方散乱電子検出器は高速走査モードで動作することができ、これにより、大型試料において興味のある領域を探すのがより簡単で便利になる。
ターボ分子ポンプ（TMP）を標準装備し、その洗浄と乾燥の真空条件はサンプル汚染を最小限に抑えた。従来の拡散ポンプ走査電子顕微鏡とは異なり、この製品は大きな加熱電力や循環水タンクを必要とせず、省エネでエコな走査電子顕微鏡となる。

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