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中国(上海)自由貿易試験区華申路198号1棟3階D-08室
光量(上海)国際貿易有限公司
中国(上海)自由貿易試験区華申路198号1棟3階D-08室
・簡単で便利な操作設計
ヘイズメータHZ-V4
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ヘイズ(Haze)は、透明な材料に雲霧や混沌が現れることを特徴づける不規則な状態である。ヘイズメータ積分球開口設計により、平行透過と散乱透過の光束をそれぞれ得、計算によりヘイズと透過率の数値を得た。HZ-V 4はHZ-V 3に基づいて全面的にアップグレードされ、測定することができるガラス、プラスチック、EVAフィルム、透明製品の光透過率とヘイズ/ヘイズ値及び光透過率、霧度操作設計がより簡単で便利です。
ヘイズメータHZ−V 4はダブルスタンダードダブルビームである。2ビームは業界の発展方向を代表している。デュアル標準(ISO/ASTM)は、異なるユーザの試験標準要件を満たすことができる。
HZ-V4ヘイズメータTMデュアルビーム方式により、変動光量を絶えず補足し、長時間安定測定を実現する。光源からの光は2つの光路に分割され、高度に平行な平行光は積分球の試料透過光面(測定開口)と補足開口面から交互に自動入射して測定される。
ヘイズメータHZ-V 4に付属するヘイズ標準板は国際標準NPL(英国国立物理研究所)に源を遡り、測定結果*威性とトレーサビリティを保証する。
| 画像はご参考までに |
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| 適用大サンプル測定 測定可能サンプルサイズ 270 mm×170 mmの中心 (試料が測定室に突き出ている可能性がある) |
| デジタル表示、簡単便利 視認性と操作性の向上 |

*自動測定機能を使用する.
計HZ-V 4
HZ-V 4の特徴

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| 2 6° |
大サンプル測定室
幅270 mmx深さ170 mm以下の寸法試料の中心を測定することができる。サンプルがサンプル室からはみ出していても、測定することができます。
操作が簡潔で表示が便利
測定室ドア側面図を開く
キーと測定値は観察しやすい。操作画面の上部アイコンから、光強度の低下、キャリブレーション時間などの状態を表示することができます。
長時間測定の安定性を確保する2ビーム設計
光強度変化の影響を受けずに長時間安定した測定を行うことができる。(1時間後の測定値の差は⊿Tt 0.1以内)。測定結果はISO 14782及びJISK 7136補償開口法と一致した。
二光束測定は日本Suga Test Instrumentsの技術である。
標準構成データ転送ソフトウェア
サンプル室
パソコンに接続できるデータ転送ソフトウェア(WindowsTM 11対応)を構成します。メジャー数
Microsoft Excel TMに転送することができます。測定データをUSBメモリに転送することもでき、
プリンタ(オプション)を使用して測定データを印刷する
| ゲージ台 格 | ヘルツ-V4 |
| 測る 量 指標 | ヘイズ度スモッグ,Tt(総透過),Td(散乱透過),Tp(平行透過) |
| 光学幾何構造 | ポイントボール、0°照射/拡散受容(0°/d構造) |
| 測る 量 バー 件 | CIE C,D 65(またはいずれかの光源がCIE Aを選択する) |
| 開口 | φ20 mm(ビーム径:約φ14 mm) |
| 様 品 尺 (しゃく) 寸(自動測定モード) | 最大サンプルサイズ:約270×170×t 30 mm(サンプルクランプを使用した場合は約270×110×t 25 mm) |
| 光源 | ハロゲンタングステンランプ12V 20W |
| 測定範囲 | 0-100% |
| 繰り返し性 | ±0.1単位(標準偏差) |
| さいげんせい | ±0.4単位(標準偏差) |
| 解析の自動化の程度 | 全自動解析、ソフトウェア表示 |
| 電源 | AC 100 ~ 240 V 50/60ヘルツ |
| 外形寸法 | 約 W 31×D 33×H 48 cm(垂直置き) |
| 重さ | 約18 kg |
| 適 用いる 標 じゅん | ISO 13468、ISO 14782、JIS K 7136、JIS K 7361-1、JIS K 7105*1、JIS R 3212*2、ASTM D1003、GB/T2410 |
| ほしょうきのう | 補償口スイッチ付きで、補償法のヘイズ値を測定することができます(ISO 14782)と非補償法ヘイズ値( ASTMD1003、GB/T2410) |
| サンプルホルダー、標準ヘイズプレートのセット(1-5-10-20-30%)と光透過率板(10-30-50-70-90%)、トレース証明書 | |
| サンプリング方式 | 透明シート又はフィルム用フィルムホルダ固定後の測定 |
| 操作インタフェース | タッチディスプレイ、中国語と英語の操作インタフェースを搭載
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*1:取り消されました*2:φ7 mmビーム/CIE A光源を要求します。
オプション
◆ヘイズ標準板◆φ7 mmビーム径付属品◆足踏みスイッチ◆手動スイッチ◆液体測定カップ◆磁性薄膜試料クランプ◆吸気式薄膜試料ラック◆プリンター◆大サイズ試料付属品◆汎用校正