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住所
深セン市宝安70区創業二路520号潤創ビルA座1301
深セン市田野計器有限公司
概要
石英ガラス光路差測定器PA-300はPhotonic lattice社の傾力による複屈折/応力測定器であり、PAシリーズの複屈折測定範囲は0-130 nmに達し、測定できるサンプル範囲は数ミリから500ミリ近くである。PAシリーズ複屈折測定器はその技術のフォトニック結晶偏光アレイシート、複屈折アルゴリズムで設計製造され、サンプル1枚に数秒しかかからない測定能力を得て、それを業界内、特に工業界の複屈折測定/応力測定の選択にした。曲面石英ガラス位相差分布測定器総代理店
製品詳細
PA-300曲面石英ガラス位相差分布測定器総代理店
一、計器の概要
PA-300シリーズは曲面ガラスなどの透明材料のために設計された高精度応力分布測定装置であり、フォトニック結晶偏光アレイ技術と複屈折増強アルゴリズムに基づいて、ナノスケールの位相差検出と応力値換算を実現する。設備は機械回転光学部品を必要とせず、数秒以内に全場応力分布スキャンを完成でき、可視化雲図を生成でき、スマートフォン曲面カバー、車載光学ガラス、光学レンズなどのサンプルの品質検査ニーズに幅広く適合する。曲面石英ガラス位相差分布測定器総代理店
適用モデル：PA-300/PA-300-L/PA-300-XL
製造元：Photonic Latticeジャパン
エージェント情報：深セン市田野計器有限公司
二、コア技術パラメータ
（一）測定性能
プロジェクト |
PA-300標準タイプ |
PA-300-Lタイプ |
PA-300-XL型（かた） |
位相差測定範囲 |
0-130nm |
0-130nm |
0-130nm |
応力値換算範囲 |
0～200 MPa（オプション） |
0～200 MPa（オプション） |
0～200 MPa（オプション） |
くりかえしせいど |
σ < 0.1nm |
σ < 0.1nm |
σ < 0.1nm |
最小解像度 |
0.001nm |
0.001nm |
0.001nm |
全域均一性判定 |
σ<0.5 nm（SEMI P 492準拠） |
σ<0.5 nm（SEMI P 492準拠） |
σ<0.5 nm（SEMI P 492準拠） |
波長を測定する |
520 nm（緑色光帯域） |
520 nm（緑色光帯域） |
520 nm（緑色光帯域） |
そくていそくど |
全スキャンを数秒で完了するには、次の手順に従います。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語 |
全スキャンを数秒で完了するには、次の手順に従います。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語 |
全スキャンを数秒で完了するには、次の手順に従います。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語）。（英語 |
（二）光学系
• センサー：500万画素偏光カメラ（2056×2464 pixels）
• コア構成部品：フォトニック結晶偏光アレイシート
• 検出原理：ストークス成分同期収集技術、機械振動誤差を除去する
• レンズ構成：
◦ 標準レンズ：PA-300視野30×36 mm ~ 100×133 mm、PA-300-L視野37×44 mm ~ 240×320 mm、PA-300-XL視野242×290 mm ~ 360×480 mm
◦ オプションズームレンズ：5.5×6.6 mm～25×30 mm（PA-300/PA-300-L対応）
（三）ハードウェア仕様
プロジェクト |
PA-300標準タイプ |
PA-300-Lタイプ |
PA-300-XL型（かた） |
外形寸法（W×D×H） |
270×337×≦631 mm |
430×487×≤1166mm |
650×650×≤1930mm |
本体重量 |
約12 kg |
約23 kg |
約46 kg |
電源要件 |
交流100-240 V（50/60 Hz）、≦6.0 A |
同左 |
同左 |
データインタフェース |
GigE（カメラ信号） |
GigE（カメラ信号） |
GigE（カメラ信号） |
備わる |
備わる |
備わる |
（四）ソフトウェア機能
• オペレーションソフトウェア：PA-View専用分析ソフトウェア
• コア機能：
一 リアルタイム位相差/応力分布雲図表示
b 位相軸方位(°)計算と寸法
c 広視野測定データ補正
d レンズ専用解析モジュール
e 外部制御インタフェースのサポート
f 検出レポートの自動生成とエクスポート
三、適用範囲
2. 材料タイプ：曲面ガラス、光学レンズ、サファイア、石英ガラス、半導体ウエハキャリアなどの透明材料
3. サンプルサイズ：5 mm～500 mm（サポートサーフェスサンプル輪郭適合）
4. 応用分野：
◦ 電子業界：スマートフォン曲面カバーの応力検出
◦ 自動車製造：車載HUDガラス虹紋制御
◦ 光学工業：レンズ位相均一性検証
◦ 半導体：フォトマスク基板の応力残留検出
四、環境と設置要求
• 作動温度：23±5℃
• さぎょうしつど：60±10%RH（結露なし）
• 周囲光要件：強い光の直射を避ける
• 設置スペース：計器寸法の1.5倍以上の操作空間を確保する必要がある
五、標準配置とオプション部品
カテゴリー |
標準構成 |
オプション部品 |
コア部品 |
本体、500万画素偏光カメラ、標準レンズ |
ズームレンズ、レンズ測定専用ステージ |
ほじょそうち |
ノートパソコン（PA-Viewソフトウェアのプリインストール） |
高精度温度制御サンプルテーブル |
ドキュメント資料 |
中国語と英語の操作マニュアル、校正証明書 |
データ処理アップグレードパッケージ（応力換算機能） |
六、基準を満たす
• 国際標準：SEMI P 492
• 業界適合：電子/電気、自動車製造などの分野の品質検査規範
PA-300曲面石英ガラス位相差分布測定器総代理店
曲面石英ガラス位相差分布測定器総代理店曲面石英ガラス位相差分布測定器総代理店
