フィッシャーFISCHERSCOPE X-RAY XDL 230

コアテクノロジーとパフォーマンス1

• 測定原理：X線蛍光分光法を用いて、めっき層の厚さの正確な測定を実現し、非破壊検査方式を採用し、自動焦点機能を備え、サンプルの完全性と測定の正確性を保障することができる。

• 元素測定範囲：Cl（17）-U（92）をカバーし、最大24種類の元素、23層のめっき層を同時に測定することができる。

• ハードウェアのパフォーマンス：

• 手動X/Yプラットフォーム：移動範囲≧95 x 150 mm、使用可能なテーブル≧420 x 450 mm、多サンプルの配置と測定需要を満たすことができる。

• 電動Z軸：手動/自動集束をサポートし、移動範囲≧140 mmで、異なる高さのサンプルに適合できる。

• DCM技術：測定距離補償法（DCM）を採用し、80 mm深さのキャビティサンプルの遠距離合焦測定を実現できる。

• 高圧調節：可変高圧は30 KV、40 KV、50 KVの3段階調節をサポートし、異なるテストシーンに柔軟に対応できる。

• コリメータ：φ0.3の円形コリメータを搭載し、測定精度を高めることができ、φ0.1 mm、φ0.2 mm及び長方形0.3 mmx 0.05 mmなどのオプションコリメータもある。

• X線検出器：比例受信器を採用し、信号の安定した受信を確保する。

• カメラ：高解像度CCDカメラ、拡大倍数40-160倍、サンプルの観察と位置決めに便利で、初級X線ビーム方向に沿って測定位置を観察し、手動焦点、十字線（校正された目盛りと測定点の寸法を持つ）、明るさを調節できるLED照明があり、レーザー光点はサンプルの正確な位置決めに用いられる。

ソフトウェアとデータ処理1

• オペレーティングシステムとソフトウェア：Windows 7以上の中国語操作インタフェースに基づいて、WinFTM専門テストソフトウェアを搭載し、PCとプリンタを接続するUSBインタフェースを搭載する。

• 統計計算機能：データグループは時間と日付機能を統合し、平均値、標準偏差、最大値、最小値などの統計計算を備える、公差範囲入力をサポートし、CPとCpk値を計算でき、範囲外自動警報ヒント。

• 校正と判定：基本パラメータ法を採用し、12純元素スペクトルライブラリを内蔵し、無標準シート校正測定を実現する、測定プログラムとサンプルの整合度を判断し、誤操作を防止するためのMQ値表示を備えている。

• 標準シート：12種類の基準純元素（Ag、Cu、Fe、Ni、Zn、Zr、Mo、Sn、W、Au、Pb、Cr）標準シートを搭載する。

計器パラメータ3

• 電源要件：200 V、50 Hz、電力最大120 W（コンピュータを除く）。

• 保護レベル：IP 40。

• 外寸法：幅x深さx高さ（mm）は570 x 760 x 650。

• 内部測定室寸法：幅x深さx高さ（mm）は460 x 495 x 140。

• 重量：107 KG。

• 使用温度：10℃〜40℃

• 保管または輸送温度：0℃-50℃

• 空気相対湿度：≤95%結露なし。

応用分野2

• 工業生産：大規模生産のめっき部品を測定し、自動車、航空宇宙、電子などの業界の部品めっき検査、例えば自動車エンジン部品、航空宇宙金属構造部品、電子機器外殻などのめっき厚さ測定と品質制御に適用する。

• 電子業界：チップピン、プリント配線板上の銅箔メッキ、金指メッキなどの電子工業または半導体産業における機能性メッキ層を測定し、電子製品の電気性能と信頼性を確保する。

• 装飾業界：超薄めっき層、例えば装飾クロムを測定し、家具、衛浴金物、アクセサリーなどの装飾性製品のめっき層厚測定に用い、製品の美観と耐久性を保証する。