F 10-HCフィルム厚さ測定器

ネゴシエーション可能更新07/11

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概要

F 20プラットフォームを基礎として発展したF 10-HCフィルム測定システムは、フィルムの反射スペクトル資料を迅速に分析し、測定厚さを提供することができ、F 10-HCソフトウェアのシミュレーションアルゴリズム設計に加え、厚膜中で単層と多層（例：プライマーやハードコートなど）を測定することができる

製品詳細

F 20プラットフォームを基礎として発展したF 10-HCフィルム測定システムは、フィルムの反射スペクトル資料を迅速に分析し、測定厚さを提供することができ、F 10-HCソフトウェアのシミュレーションアルゴリズム設計に加え、厚膜中で単層と多層（例えば、プライマーやハードコートなど）を測定することができる。

簡易操作インタフェース

新しいテンプレートモード機能を持つF 10-HCは、ユーザーがサンプルの画像を送金し、画像上で測定位置を直接定義できるようにするために、より使いやすくなります。システムは自動的に使用者に今回の測定結果が有効かどうかを通知し、測定結果を振り込まれた画像に表示してユーザーに分析させる。

手動基準補正は不要

F 10-HCは現在、自動ベンチマーク矯正を実行し、独自の積分時間を設定するという革新的な方法で、頻繁なベンチマーク矯正を実行する必要がなく、使用者にサンプルの測定をすぐに実行させることができるようになった。

うらはんしゃぼうがい

背面反射干渉は厚さ測定にとって光学技術の挑戦であり、F 10-HCシステムを有する独特の接触型プローブは背面反射干渉の影響を最小化でき、使用者はより高い精度でコーティング厚さを測定できる。