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だ円偏光顕微鏡

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モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

Accurion EP 4偏光解析法$r$n用途：多層フィルムの厚さと光学定数（n、k値）測定

製品詳細

アクリオン EP4だ円偏光顕微鏡

用途：多層フィルムの厚さと光学定数（n、k値）測定

横方向分解能（x／y方向）は1ミクロン未満であり、膜厚測定精度は0.1ナノメートルであった。
選択範囲測定機能：微細構造試料と微小試料の選択範囲偏光測定を実現する
従来の単点測定に代わる全顕微鏡視野直接イメージング
フレアカット技術により、真の超薄型透明を実現する、基板上の薄膜のバックグラウンドレス反射偏光解析法
原子間力顕微鏡（AFM）、

表面プラズマ共鳴（SPR）、反射スペクトル（RefSpec）、

ラマン分光器（RamanSpec）、石英結晶微小天秤（QCM）、

白色光干渉計（WLI）とLBスロット／膜天等度

椭偏显微镜

アクリオン EP4だ円偏光顕微鏡

用途：多層フィルムの厚さと光学定数（n、k値）測定

横方向分解能（x／y方向）は1ミクロン未満であり、膜厚測定精度は0.1ナノメートルであった。
選択範囲測定機能：微細構造試料と微小試料の選択範囲偏光測定を実現する
従来の単点測定に代わる全顕微鏡視野直接イメージング
フレアカット技術により、真の超薄型透明を実現する、基板上の薄膜のバックグラウンドレス反射偏光解析法
原子間力顕微鏡（AFM）、

表面プラズマ共鳴（SPR）、反射スペクトル（RefSpec）、

ラマン分光器（RamanSpec）、石英結晶微小天秤（QCM）、

白色光干渉計（WLI）とLBスロット／膜天等度

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