めっき層厚計

めっき層厚計EDX2000A

めっき層厚計EDX2000A 長年のX蛍光測定器の経験を集めて、専門に研究開発した下照式構造のめっき層測定器である。さまざまな従来の形状のめっき製品を正確に測定できるだけでなく、測定しにくいさまざまな異形品についてもテストすることができます。光起電力業界、金属衛浴、電子電気、航空宇宙、磁性材料、自動車業界、通信業界などの分野に広く応用できる。

めっき層厚計EDX2000A ハードウェア構成

高出力高圧ユニットに微小焦点スポットを組み合わせたX線管は、信号出力の効率と安定性を極めて保証している。
EDX 2000 Aは異なる元素を正確に解析することができ、多めっき層と複雑合金めっき層の測定に対して、比較にならない優位性がある。
コリメータの選択において、EDX 2000 Aにも大きな利点があり、それが選択できるコリメータはより小さい：0.1*0.3 mm、中0.15 mm、中0.2 mm、中0.3 mm、中0.5 mmなど。超小さなコリメータで得られた超小さなスポットは、より小さなサンプルの測定にも余裕を持たせます。

めっき層厚計EDX2000A 製品機能：

1.高分解能Si-PIN（またはSDDシリコンドリフト検出器）を用いた専門めっき厚さ検出器、測定精度と測定結果業界。

2.FlexFP-Multi技術を採用し、生産過程における品質制御にかかわらず、来料検査と材料性能検査における無作為抜き取り検査と検査にかかわらず、私たちは友好的な体験を提供し、検査の需要を満たすことができます。

3.マイクロモバイルプラットフォームとハイビジョンCCDを組み合わせ、つまみ調節設計は筐体の外部にあり、移動位置を観察するのは簡単で便利である。

4.X線蛍光技術によるめっき層の厚さ試験の応用は、大量のめっき製品を生産するための検査条件を高め、損失がなく、迅速で、更なる特徴があり、電子と半導体工業における品質の向上に対して検査の保障があった。

5.めっき層厚測定器は華唯新技術FlexFp-Multiを採用し、標準サンプルの制限を受けず、めっき層標準サンプルなしで直接サンプルのめっき層厚を測定することができ、テスト結果は科学的な検証に耐えられる。

6.サンプルの移動設計はサンプルキャビティの外部調節であり、多点テスト時にサンプルを移動するのは便利で迅速で、効率を高めるのに役立つ。

設計はより科学的で、ソフトウェアとハードウェアの組み合わせ、機械と電気の連動、放射線の安全性は標準GBZ 115-2002の要求を上回っている。

7.ソフトウェア操作は操作者の等級管理権限を持ち、一般的な操作員、主管は異なるユーザー名とパスワードを使用してログインし、テストの記録は同時に自動的に試験者のログイン名を追加する。

めっき層厚計EDX2000A 製品指標：

厚さ測定技術：X線蛍光厚さ測定技術

試験サンプルの種類：金属めっき層、合金めっき層

測定下限：0.003 um

測定上限：30-50 um（材料元素で判定）

測定層数：10層

測定時間：30～120秒

検出器タイプ：Si-PIN電気冷凍

検出器解像度：145 eV

高圧範囲：0-50 Kv、50 W

X線管パラメータ：0-50 Kv、50 W、サイドウィンドウ類、

ライトパイプターゲット：Moターゲット、

フィルター：専用3種類の自動切り替え、

CCD観察：260万画素

微移動範囲：XY 15 mm

入力電圧：AC 220 V、50/60 Hz

試験環境：非真空条件

データ通信：USB 2.0モード

めっき層厚計EDX2000A 設計のハイライト