蔡司三座標

新型ZEISS SPECTRUM 3座標測定機の*技術により、より高い品質を得ることができます。また、ZEISS VAST XXTのスキャン技術は円度誤差測定を実現することができ、これは絶えず向上する品質と生産性の需要にとって理想的な選択である。

そくていぎじゅつ

測定結果に優れたデータ品質を提供
スキャン機能は効率と信頼性の高い測定に重点を置いている：ワークピースの大量かつ高品質なデータを迅速に検出することができる。これにより、単一点測定による測定誤差が解消されるため、より高い信頼性と再現性が実現される。

高解像度の障害検出。

測定タスクにおける柔軟性の向上
柔軟性が大幅に向上し、測定された動作時間が短縮されました。より複雑なワークピースのために広範な測定タスクを作成することもできます。

時間とコストを節約する。効率を向上させます。

コスト効果
計算補助精度（CAA）を有するRDSは、約5184個の可能な角度の位置同定補間を有する。プローブの回転により多くの位置を提供し、キャリブレーション時間を短縮し、動作時間を大幅に延長することができます。スキャンセンサーにはCAA機能もあり、鑑定時間を短縮でき、通常より12倍速い：鑑定は約12分、再鑑定は5分。

安定している。堅牢。信頼性が高い。

実際の状況における機能
堅牢な製造品質に優れている：

• 堅牢な台座と本格的な三脚構造

• 四面環境対応空気軸受の構造

• 地震防護システムを統合

• 得られたガラスセラミック格子定規は、ほとんど温度膨張がない

  
  

敷地面積が小さい

より多くの測定環境に対応するための特別な設計
特別に設計されたバックパック式制御キャビネットは、敷地面積を小さくします。受動制振システムと地震防護を備えているほか、ZEISS SPECTRUMには優れたハードウェアが含まれており、信頼性の高い測定結果を保証しています。