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CSナノPAL

ネゴシエーション可能更新05/07
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概要

CSナノPAL高灵敏Zeta电位及粒度分析仪粒度测量采用动态光散射原理,是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用硬件PALS技术,与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高约1000倍,可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐浓度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。$r$n$r$n$r$r$n=r$n许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸

製品詳細

CSナノPAL高感度Zeta電位及び粒度分析器の粒度測定は動的光散乱原理を採用し、正確、迅速、便利なナノメートル、サブミクロン粒度分析試験装置である。Zeta電位測定はハードウェアPALS技術を採用し、従来の周波数シフト技術に基づく光散乱方法に比べて感度を約1000倍に高めることができ、低誘電率、高粘度、高塩濃度、等電点付近などの測定条件下でのサンプル測定に適している。


新材料、生命科学、環境工学などの新興学科に従事する多くの研究者は、電気泳動移動度が通常の水相条件下より10〜1000倍低く、従来の方法では十分な感度を測定できず、低誘電率、高粘度、高塩濃度、および等電点付近などの測定条件下のサンプルを分析することができないことに長い間苦しんできた。CSナノPALの出現は彼らに正確で信頼できる測定技術を提供した。


簡単な計算でハードウェアPALS技術の特性:



ナノ粒子サイズ測定部は、懸濁液中の粒子のブラウン運動により、時間とともに光強度に脈動が生じる動的光散乱技術(DLS)を使用する。デジタル相関器技術を用いてパルス信号を処理し、光強度の変動を相関関数に変換する。自己相関関数には懸濁粒子または溶液中の高分子の拡散速度情報が含まれており、さらにStokes-Einstein方程式を用いて粒子の拡散係数と粒子粒径R 8341とその分布を計算した:



主な特徴:

1、高出力半導体レーザ:パワー40 mW、波長640 nm赤色光レーザ、

2、高感度検出器:APDアバランシェ型ダイオード検出器、

3、表面Zeta電位測定:表面Zeta電位測定機能を有し、薄膜表面Zeta電位を測定することができる、

4、マイクロレオロジー測定:マイクロレオロジー測定機能を有し、粒子運動分析(例えば平均方位シフトMSD)を通じて複雑な流体のレオロジー特性を特徴づけることができ、粘度、弾性係数G′及び粘性係数G′を含み、低粘性、弱構造及び高歪敏感サンプルの粘弾性特徴を行うことができる、

5、オンライン検出器機能:オンライン検出器としてGPC/SECと接続できる、

6、高感度:ハードウェアPALS技術、感度は約1000倍高く、高塩濃度、有機溶媒、油相系に適用する;

7、*のデータ分析機能:ソフトウェアはテスト過程の光強度のリアルタイム変化図を提供し、そしてほこりフィルタリング機能を提供する、時間、温度(蛋白質融点)及びその他のパラメータによる粒度変化の傾向分析を自動的に研究することができる。


一般的な用途:

1、リポソーム、バイオコロイド

2、陶磁器

3、顔料、インク

4、医薬

5、乳剤(食品、化粧品)

6、廃水処理

7、ラテックス

8、カーボンブラック