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上海西努光学科学技術有限公司
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CIS−LIBS粒子元素分析システム

交渉可能更新12/20
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
CIS-LIBS粒子元素分析システムには複数の設備が必要である:拡大観察だけでは成分を明らかにすることはできず、複数の設備を使用するか外部に分析を依頼する必要がある。
製品詳細


CIS−LIBS粒子元素分析システム:高速、正確、ワンタッチ解析

CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统

複数の設備が必要:

拡大観察だけでは成分を明らかにすることはできない

複数のデバイスを使用するか、外部解析に委任する必要がある


前処理が必要:

分析設備内に入る寸法に制限があり、目標物を破壊または切断する必要がある

目的物表面の導電性処理、分析設備内部の真空処理が必要


実験員の素養に対する要求が高い:

分析装置は専門性が高いため、少数の人だけが操作できる


専門知識を備えてこそ、検出された元素から物質を判断することができる

CIS-LIBS颗粒元素分析系统



1台で完了

拡大観察から元素判別を行う元素判別を1台で迅速に実行できる人はその場で作業を行うことができる


前処理不要

目標物の寸法に制限はなく、破壊する必要もなく直接分析することができる

空気中で分析を行い、導電性処理及び真空処理を必要としない


要素判別を容易に行う

顕微鏡システムを用いて観察しながら、ワンクリックで元素判別を行うことができ、内部データベースに基づいて、瞬時に検出物質を推定する


CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统



CIS−LIBS粒子元素分析システム仕様パラメータ


モデル

CIS-LIBS の






LIBS光学モジュール

けんしゅつげんり

レーザ誘起破壊分光法

けんしゅつせいしつ

定性及び半定量

けんしゅつりょく

%レベル(要素に依存)

環境要件の検出

なし、分析は大気条件下で行う(なし、常温常圧条件下で行う)

対応要素

CU、A

SUS、Fe、L

C、Cr、Mg、MnN

T

Y、zn、Auなどの一般的な要素



レーザー

レーザータイプ

Nd:YAG(半導体ポンプ)

レーザー波長

355nm

シングルパルスエネルギー

<100UJ

パルス幅

≤1 .5ns

ポイント仕様

15um(タイプ)

アブレーション深さ

1~10 um(材料によって異なる)



スペクトロメータ

スペクトル範囲

200〜780 nm

スペクトル分解能

0 .15nm

信号対雑音比

500


プローブ

CMOS検出器


レーザレンズ

レンズタイプ

専用仕様透過型レンズ

レンズ倍数

7X

さぎょうきょり

18ミリメートル






走査光学モジュール


入射光軸

位相差観察方法

オリンパスBX 53 M、BF明場照明

対物レンズ

5X、10X、20X、50X

オプション


照明

高出力デジタルLED、ソフトウェア制御可能、メモリ付きモード

へんこうシステム

偏光00と偏光90 oの自動デジタル切り替え、メモリモード付き


デジタルイメージング

カメラモデル

DFK33UX249

カメラ解像度

1920x1200(2.3mp)

カメラターゲット面


2インチ

フレームレート

48FPS


走査ステージ

ステージ方向

MXYZ三軸

ストロークレンジ

Xy軸125 x 75 mm、z軸35 mm

解像度

0 .1 um(ソフトウェア制御)

せいど

<5μm

せいぎょモード

ソフトウェア自動制御+リモートロッド細分化制御


レポートの生成

ジェネレーションモード

自動生成

報告内容

単粒子材質専門報告書

全粒子材質専門報告書

コンピュータ

15プロセッサー、16 Gメモリ、ハードディスク1 TB、ディスプレイ22インチ

設備電源

電力供給方式

AC 220V50Hz

保証期間

全12ヶ月

たいかんきょうせい

使用環境温度

+10~45

使用環境湿度

。~85%RH(結露なし)

重量

システム

約50 KG

外形寸法

幅490 mmx高さ600 mmx奥行き840 mm


CIS-LIBS颗粒元素分析系统

CIS-LIBS颗粒元素分析系统