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賽非特科学器械(蘇州)有限公司
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日本電子ROHSX線蛍光分析器の金属成分分析

交渉可能更新01/30
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
日本電子ROHSX線蛍光分析器の金属成分分析(SXES:Soft X-Ray Emission Spectrometer)は、新開発の回折格子と高感度X線CCDカメラを組み合わせることで、高いエネルギー分解能を実現した。EDSと同様に並列検出が可能であり、WDSのエネルギー分解能を上回る0.3 eV(FermiエッジにおけるAl−L基準)の高エネルギー分解能で分析することができる。
製品詳細

JSX-1000 S型X線蛍光分光計はタッチスクリーン操作を採用し、より簡便で迅速な元素分析を提供する。定性的、定量分析(FP法・検量線法)、RoHS元素スクリーニング機能などを備えている。日本電子ROHSX線蛍光分析器の金属成分分析豊富なハードウェア/ソフトウェアオプション、さらに幅広い分析が可能です。


主な特徴

1. 操作が簡単

* 日本電子ROHSX線蛍光分析器の金属成分分析サンプルをインストールし、画面にタッチするだけです。

*タッチ操作は分析結果とスペクトルの表示切り替えも可能で、タブレットやスマートフォンを使うように簡単です(キーボード、マウスを使っても操作できます)。

*GUIインタフェースはわかりやすく、直感的に操作できます。


日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析



2. 高感度&高スループット

JEOLが新たに開発したSDD(シリコンドリフト検出器)と新たに設計した光学系、およびエネルギー範囲全体をサポートできるフィルタにより、高感度な分析が可能になった。試料室真空排気ユニット(オプション)を取り付けることで、軽元素に対する検出感度を高めることができる。


日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析


全エネルギー範囲における高感度解析

フィルタ(最大9種類*)と試料室真空排気ユニットを用いて、全エネルギー範囲で高感度な分析を行うことができる。

*Cl、Cu、Mo、Sbがオプション


日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析


微量元素検出例(10 ppm以下)


日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析


3. ソリューションの提供

ソリューションアプリケーションは、事前に登録されたメニューに基づいて所望のテスト分析を自動的に実行することができます。ソリューションアプリケーションのリストからターゲットソリューションのアイコンを選択するだけで、簡単に分析結果を得ることができ、さまざまな業界に簡単な分析を提供できます。

日本电子ROHSX射线荧光分析仪金属成分分析



新開発のインテリジェントFP(基本パラメータ法)法は、標本を用意する必要がなく、残留成分と厚さの補正を自動的に行うことができ、高度に正確な定量結果を得ることができる。
(残留成分と厚み補正機能は有機物サンプルのみをサポート)


厚さ 校正 Cr の Zn の CD Pb の じどうへいこう
0.5mm 0.008 0.037 0.001 0.002 99.76
3.8ミリメートル 0.012 0.109 0.004 0.006 99.64
0.5mm ある 0.011 0.137 0.015 0.010 99.54
3.8ミリメートル 0.011 0.134 0.016 0.011 99.55
標準値 0.010 0.125 0.014 0.010
  • (マス%)

  • 主なパラメータ


  • 検出要素範囲 Mg~U
    F~U(オプション)
    X線発生装置 5〜50 kV、1mA
    ターゲットざいりょう Rh の
    1次フィルタ最大9種類の自動交換 標準:OPEN、ND、Cr、Pb、Cd
    オプション:Cl、Cu、Mo、Sb
    コリメータ3種類の自動交換 0.9mm、2mm、9mm
    検出器 シリコンドリフト検出器(SDD)
    サンプル室寸法 300mmφ×80mmH
    サンプル室雰囲気 大気/真空(オプション)
    試料室観察機構 カラーカメラ
    オペレーションコンピュータ Windows ® タッチスクリーンデスクトップパソコン
    解析ソフトウェア(標準) 定性分析(自動定性、KLMマーク、ピーク表示、スペクトル検索)
    定量分析(ブロックFP法、検量線法)
    RoHS分析ソリューション(Cd、Pb、Cr、Br、Hg)
    簡易分析ソリューション
    レポート作成ソフトウェア
    解析ソフトウェア(オプション) 薄膜FP法解析ソフトウェア
    関連フィルタFP法解析ソフトウェア
    日常点検ソフトウェア(標準) 管球昇圧、エネルギー補正、強度補正
  • Windows ® 米Microsoft社の米国またはその他の国における登録商標または商標です。


  • 日本電子ROHSX線蛍光分析器の金属成分分析主な付属品:

  • 1.試料室真空排気ユニット

  • 2.多サンプル自動交換ユニット

  • 3.フィルタグループ

  • 4.フィルタFP法分析ソフトウェア

  • 5.薄膜FP法分析ソフトウェア

  • 6.ピーク消去ソフトウェア

  • 7.ニッケルめっき層の選別ソリューション

  • 8.錫めっき層の選別ソリューション

  • 9.塩素スクリーニングソリューション