吸収スペクトルXAFS

長い間、X線吸収微細構造スペクトル（XAFS）は各同期放射光源でしか試験できなかった。光源機の時間が限られているため、多くの科学研究者のテスト需要を満たすことができない。近年、XAFSデータはすでにトップレベルの定期刊行物の「標準配置」となっており、ますます多くの課題グループがXAFSテストを必要としている。XAFSを各実験室に進出させる理念を持ち、中国科学院高エネルギー物理研究所と中国科学技術大学は共同で新しいX線吸収微細構造分光器（RapidXAFS）を発売した。

RapidXAFS 2M吸収スペクトルXAFS製品の利点：

次のような特徴があります。

• 最高光束製品

  光子束は1000000光子/秒/eV-400000光子/秒/eVより高く、スペクトル効率は他の製品の数倍である、シンクロトロン放射線と同じデータ品質を得る

• 優れた安定性

  光源の単色光強度安定性は0.1%より優れ、繰り返し収集エネルギードリフト<50 meV

• ＜1%検出限界

  高光束、優れた光路最適化、光源安定性測定された元素含有量>1%を確保した場合も高品質EXAFSデータが得られる

• デュローランド円構造

  2つの元素局所構造を1つのX線源の場合に同時に特性化するために、2つのローランド円構造を使用するブレークスルー
  

X線吸収微細構造（X-ray absorption fine structure、XAFS）は、材料の局所原子または電子構造を研究する有力なツールであり、触媒、エネルギー、ナノなどの人気分野に広く応用されている。

RapidXAFS 2M吸収スペクトルXAFS主に次のような利点があります。

1. 長距離秩序構造に依存せず、非晶質材料の研究に用いることができる、

2. 他の元素に干渉されず、同一材料中の異なる元素についてそれぞれ研究することができる、

3. サンプルに破壊がなく、大気環境下でテストし、その場でテストすることができる、

4. 試料状態の影響を受けず、固体（結晶、粉末）、液体（溶液、溶融状態）と気体などを測定することができる、

5. 配位原子の種類、配位数及び原子間距離などの構造パラメータを得ることができ、原子間距離の精度は0.01 Aに達することができる。

デュローランド円構造設計

シンクロトロン放射分解能に匹敵する

XESテストはN、C、Oを区別することができる

XAFSスペクトルは主に2つの部分を含む：X線吸収近辺構造（XANES）と拡張X線吸収微細構造（EXAFS）。EXAFSのエネルギー範囲は、X線によって励起された内層光電子の周囲原子と吸収原子との間の単電子単次散乱効果の結果に由来する吸収辺の後50 eVから1000 eV程度である。XANESは吸収端の前約10 eVから吸収端の後約50 eVの範囲を含み、それは主にX線によって励起された内殻層光電子の周囲原子と吸収原子の間の単電子多重散乱効果に由来する。

測定可能要素：緑色部分は測定可能K辺、黄色部分は測定可能L辺

XAFSアプリケーション：

• こうぎょうしょくばい

• エネルギー貯蔵材料

• ナノ材料

• かんきょうどくり

• もくしつぶんせき

• 重要素解析