AET誘電率試験器セラミック粉体液体DkDf分析

AET誘電率試験器セラミック粉体液体DkDf分析マイクロ波誘電計

AET誘電率試験器セラミック粉体液体DkDf分析Microwave Dielectrometer

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装置名はMicrowave Dielectrometerで、無線および高速デジタルデバイスの電気設計のために開発された。エンジニアや材料開発者向けで、誰でも簡単に高精度な誘電率測定を実現できるように設計されています。システムは異なる測定対象と周波数の需要に対して、多種の測定方式を提供した。

📊 二、三種類の主要測定モードの比較

AETは3種類のコア測定モードを提供し、それぞれ異なる形態の材料に対して：

1.空洞共振器TMモード（フィルム/板材専用）

• 対象：PCB基板、フィルム、樹脂、ガラス及びセラミックスなど。

• 特徴：JIS C 2565規格に基づいて、円筒空洞中心軸の電界変化を利用して、PTFEや高純度セラミックスなどの低誘電損失材料のtanδを測定するのに適している。

• パラメータ：周波数1 GHz

• サンプル要件：細長い棒状（幅3 mm、厚さ0.05-1 mm、長さ＞80 mm）。

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2.空洞共振器TEモード（5 G高周波専用）

• 対象：5 G通信材料、高速信号伝送フレキシブル回路基板。

• 特徴：厚さ0.3 mm以下のフィルムに特化し、周波数は40 GHzに達することができ、固定ギャップ設計は測定安定性を保証した。

• パラメータ：周波数10 GHz~ 40 GHz、Dk範囲1 ~ 5、Df範囲0.01 ~ 0.0001。

• 標準：JIS R 1641及びIPC-TM 650 2.5.5.13に適合する。

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3.同軸共振器（非破壊測定）

• 対象

• 特徴：開口部のエバネセント波（近接場）を用いて非破壊測定を行い、サンプル加工を必要としない。

• パラメータ：単一共振器は5つの周波数点（0.8 GHzから18.4 GHzをカバー）を測定でき、Dk範囲は1 ~ 15である。

• 技術的背景：東京大学前田研究室と共同開発、専ら利の号第3691812号。

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🛠️ 三、特殊材料測定方案

• 粉体/液体：石英管を用いてサンプルを充填し、真密度計算充填率により誘電率を測定する、低極性溶媒の精密測定にも使用できる。

• ヶーブル材料：専用共振器設計、発泡PTFEなどの電線絶縁材料に対して直接高精度測定を行うことができる。

• 超低損失セラミックス：誘電体共振器を用い、導体板間に挟まれたセラミック円筒共振により、Dfが0.001以下の材料に適している。

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🏢 四、システム構成とサービス

• ：共振器、ネットワークアナライザ（Keysight、Anritsu、Rohde&Schwarzなどのブランドに対応）及び制御PCから構成される。

• 推奨デバイス：コンパクトUSBベクトルネットワークアナライザMS 46122 B（周波数オプションは1 MHzから43.5 GHzまでカバー）。

• ソフトウェアオペレーション：専用ソフトウェアを搭載し、測定ウィザードインタフェースを通じて簡単な操作を実現する。

• サービス・サポート：AETは豊富な経験に基づく誘電率測定サービスを提供し、顧客のニーズに応じて最適な測定方法を選択することができる。

この測定システムはモジュール化設計により粉体から完成品ケーシングまでの広範な材料形態をカバーし、5 G高周波試験の需要を結合し、材料の研究開発と品質制御に全面的なソリューションを提供した。