3 Dスキャナ

特徴

生産品質保証，使いやすい，使用するS wideによる測定は非常に簡単である：サンプルのロード、設置方法及び検査結果。

高解像度3 Dイメージング

詳細をスナップ，この3 Dスキャナーには500万画素カラーカメラが搭載されており、デジタルズーム機能を加えることで、サンプルのさまざまな詳細を捉えることができる。

工業測定ソリューション

大型サンプル、に頼る300×300mmのプラットフォーム構成により、大量のサンプルアレイと大面積領域を測定することができる。

精密光学測定

サブミクロンレベル反復性，MS wideは独自のストライプ投影アルゴリズムを採用し、ミクロンレベルの精度を実現し、大面積の測定表面にサブミクロンの繰り返し性を提供することができる。

高度なソフトウェアツール

効率的なデータ抽出，S wideには、測定データから各情報を抽出するための分析ツールが搭載されています。粗さと平坦度のパラメータ、キーサイズ、GD&TとCADの比較です。

デザイン

生産品質管理

詳細をスナップ，優れた継ぎ目機能によりS wideは大面積の測定データを収集することができる。

じどうそくていシステム

複数のサンプルの測定，収集ソフトウェアは測定プログラムの自動化を提供する。異なる位置で簡単に計測をプログラミングできるツールがあります。

複数の構成を提供

理想的な構成の選択，S wideは、開発のための標準的な設定であれ、オンラインプロセス制御のための高度なソリューションであれ、さまざまなシーンに適した4つの異なる構成を提供します。

大面積光学プロファイル計

強力なシングルショット取得能力，我々の構造光システムは大視野（FOV）と焦点深度により、印象的な35 x 29 x 40 mm領域をキャプチャすることができる。

ウルトラHD3 D輪郭計

高解像度カラーカメラ，Sワイドの導入は可視化と精度を新たなレベルに引き上げた。5 Mpxカラーカメラは、生き生きとした詳細なデータを提供します。

光学測定ソリューション

複数の光源は、，3 Dスキャナーには緑と青の光源が搭載されている。サンプルの色や反射率にかかわらず、最適な光源を柔軟に選択できます。

ソフトウェア

エッジプロジェクションシステム

てきおうアルゴリズム，Sワイド測定器は迅速に測定でき、測定周期を大幅に短縮することができる。Z方向移動を行う必要なく、大面積領域を効果的にカバーすることができます。また、カスタマイズ可能なストライプ投影モードは測定時間をさらに最適化し、効率的な測定を実現します。

SensoVIEW自動解析

センソビューさまざまなニーズに対応した理想的な分析ソフトウェアです。予備的な検査と分析のための包括的なツールが含まれています粗さや体積計算、重要な寸法の測定を可能にする3 Dまたは2 D測定。

高速品質管理

センソプロ品質制御分析の理想的なツールです，この高度な解析ソフトウェアは、データ内の特定の特徴を自動的に識別し、正確な測定パラメータを提供するプラグインベースの包括的なソリューションを提供します。

仕様

技術

ストライプ投影

光源

寸法（mm／'）

光学系パラメータ

対物レンズ

XYテーブル

精度と再現性

コンピュータとオペレーティングシステム