博米科技が複数の画像テスト設備を携えてCIOE中国光博会に出展
今回のCIOE展示会の現場で、博米科技はマルチスペクトルランプボックス、内視鏡試験システムBOMI-TSECIT、標準QCランプボックスBM 03 QCなどの製品を携えて出展し、カメラ技術と応用分野で画像品質試験における蓄積を展示した。SEMI-e第6回深セン国際半導体展
2024年6月26日、SEMI-e第6回深セン国際半導体展が深セン国際コンベンションセンターで開幕した。今回の展覧会には3館6区が特設され、815の展示業者が集まり、初日は人気が爆発した。
岱米中国は先進的な半導体装置の販売業者として、今回の展示会に参加することができて光栄です。
この展覧会は多くの業界の専門家のエリートが集まり、内容はすばらしく豊富である。岱美は同業界内の専門家、学者、企業家たちと深い交流を行い、業界の経験を共有し、技術のトレンドを検討し、そこから大いに利益を得た!











近年、第3世代半導体技術は半導体業界のコア駆動力となりつつある。この分野の参加者として、基板とエピタキシャルの様々な検出測定ニーズについて豊富な経験を積んできた。お客様のニーズをよりよく理解し、満たすために、私たちは多くのお客様と幅広く深く交流し、多くの測定技術の応用と発展方向を検討しました。


交流過程において、我々は重点的にいくつかの重要な検査領域に注目し、膜厚測定、ウエハ厚さ測定、ウエハ形態測定、ウエハ結合、リソグラフィ、プラズマ洗浄、応力及びシート抵抗測定などを含む。各検出段階は重要であり、半導体装置の性能と信頼性に直接影響を与える。
これらの広範で深いコミュニケーションを通じて、私たちはお客様のニーズに対する理解を深めただけでなく、独自の技術とソリューションの最適化を推進しました。デルは常にお客様により良いものを提供することに努めていますの製品とサービスを提供し、第3世代半導体技術の盛んな発展を支援する。
同時に、岱米も引き続き半導体デバイス分野の技術に注目し、投入していく激しい市場競争の中で進歩を維持するための市場動向。














