博米科技が複数の画像テスト設備を携えてCIOE中国光博会に出展
今回のCIOE展示会の現場で、博米科技はマルチスペクトルランプボックス、内視鏡試験システムBOMI-TSECIT、標準QCランプボックスBM 03 QCなどの製品を携えて出展し、カメラ技術と応用分野で画像品質試験における蓄積を展示した。
09,14,2026 1観点
ファーウェイ技術者と我が社は誘電率購買プロジェクトを交流購買し、2ヶ月間の交流を経てついに確定した
LJD低周波数ぜつえんざいりょう介（かい）でんきていすうゆうでん品質損失試験システムはS 916試験装置（治具）、LJD型（かた）誘電率試験ホスト、構成。国家基準に基づく.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、米規格ASTM D 150及び国際電工委員会IEC 60250の規定設計製作。システムは絶縁材料の高周波誘電損失正接値（tanδ）と誘電率（ε）の自動測定の解決策を提供する。
一 本装置適用基準
1 GBT 1409-2006電気絶縁材料の工業周波数、オーディオ、高周波（米波長メモリを含む）における容量率と誘電損失係数を測定するための推奨方法
2 GBT 1693-2007加硫ゴムの誘電率と誘電損失角正接値の測定方法
3 ASTM-D 150-誘電率試験方法
4 GB 9622.9-88/SJT 11043-1996電子ガラスの高周波誘電損失と誘電率の試験方法
