走査型電子顕微鏡（SEM）とX線分光分析（EDS）技術を組み合わせて、電池材料中の汚染物質の構造と元素情報を探査することができる。しかし、電池中の汚染物質は通常濃度レベルが低く、従来のEDSを用いてこれらの汚染物質を研究する場合、画像収集時間が長くなる可能性がある。このドキュメントでは、新しいSEMプラットフォームであるThermo Scienticを使用して汚染物質を迅速にキャラクタライズする簡単な方法を紹介します™ Axia™ ChemiSEM，材料の微細構造を迅速かつ便利に分析し、欠陥を発見することができる。