コンセプト

試験の目的

（1）スイッチング素子（サイリスタなど）に関する共振現象、

（2）局所スイッチング動作又は負荷変化の小さい配電システム、

（3）電力システムの主なスイッチングハラスメント、例えばコンデンサのスイッチング、

（4）設備組み合わせ接合地システム短絡、アーク故障など様々なシステム障害が発生しています。

（1）外部回路に衝突し、注入された大電流が接地抵抗または外部回路インピーダンスによって発生する電圧を直撃する雷、

（2）近傍が設備結合接地システムの共通経路に結合されている場合、近傍で直接地放電された雷電流に誘起電圧を発生する、

（3）間接雷（すなわち雲の間または雲の中の落雷または近傍物体の落雷による電磁場）は、建物内と外導体に誘起電圧と電流を発生する。

●LPZ 0 A領域：この領域内のすべての物体が直接落雷を受け、すべての雷電流を引き起こす可能性がある、領域内の電磁場強度は減衰しなかった。

●LPZ 0 B領域：領域内の物体は選択されたボール半径に対応する雷電流によって直接雷を打つことはできないが、領域内の電磁場強度は減衰していない。

●LPZ 1区：本区のすべての物体は直接落雷できず、各種導体を流れる電流の割合は直接落雷できないLPZ 0 B面積は小さい、シールド対策により、この領域の電磁界強度が減衰する可能性があります。

●LPZ 2後続防雷区：電流と電磁場強度をさらに低下させる必要がある場合、後続防雷区を増加させ、後続防雷区の要求は必要に応じて保護する環境区域を選択しなければならない。

しけんはいち

1.波動発生器、結合／脱結合ネットワークなどの補助装置を組み合わせる。

2.合成波発生器は10/700μsと1.2/50μsの2種類に分けられ、異なるポートタイプに対応する。

3.分類

サージ摂動抵抗試験は、

（1）サージ電圧耐スクランブル試験（オープン電圧）

（2）サージ電流耐スクランブル試験（短絡電流）

注：サージ（Surge）耐干渉試験間接落雷をシミュレーションし、直接落雷や直接落雷を考慮しないEUT絶縁能力耐高圧試験。

具体的なテスト波形

1）合成波発生器の回路原理図

2）具体的波形図

1）合成波発生器の回路原理図

2）具体的波形図

（1）10/7000通信ネットワークと長距離信号回路ポートμs衝撃波の使用を提案する。一般的な電子機器、例えばRJ 45、RS 232、XDSL、RS 485、セキュリティカメラなど。

（2）1つの交直流電源ポートと短距離信号回路ポート1.2/50μs衝撃波を使用することを提案する。LED照明装置、基地局などの一般的な電子機器などの一般的な電子機器。

常用設備ポートの耐波性試験