抵抗率超高温プローブ台高温条件下で材料の抵抗率を正確に測定するための先進的な装置である。

コア機能：

抵抗率測定

4プローブ法を用いて高温環境を結合し、半導体材料、導電性薄膜、金属材料などの高温下の抵抗率を正確に測定し、材料科学研究に重要なデータを提供する。

温度変化電気特性試験

温度による材料の電気特性（例えば抵抗、導電性）の変化規則を特徴づけることができ、室温から超高温（例えば1700℃）までの広い範囲の試験を支持する。

マルチパラメータ同期解析

電気学モジュール（プローブ、変位機構、インタフェース）と光学モジュール（反射/透過光路）を集積し、抵抗率、温度、導電率などのデータのリアルタイム同期収集とグラフ表示をサポートする。

　　抵抗率超高温プローブ台技術的特徴：

超広幅温度範囲と高精度温度制御

温度範囲：RT（室温）〜1700℃、一部のモデルは4 K低温〜超高温をサポートする。

温度制御精度：±0.1℃で、温度安定性が抵抗率測定に与える影響を最小にすることを確保する。

温度制御方式：液体ヘリウム冷凍、液体窒素冷凍、熱電冷凍、抵抗加熱、赤外加熱、レーザー加熱などの多種の方案を集積し、異なる実験需要に適応する。

四プローブ法と高精度プローブ

4プローブ試験治具（直線型または等間隔型）を採用し、接触抵抗の影響を除去し、測定精度を向上させる。

プローブの材質は金メッキタングステン針、タングステン鋼レニウム針などを選択でき、チップをやる直径は10μmに達し、ナノスケールのサンプル試験をサポートしている。

モジュラー設計と高い互換性

プローブ台は内部調節、外部調節、電気制御調節などのタイプに分けられ、異なるサンプルサイズとテストシーンに適している。

Labview、C#などの多言語SDKをサポートし、外部測定器（ソーステーブル、デジタルマルチメータ）との統合を容易にする。