中国科学院物理所、FE-5000 W型強誘電体テスターの開発を主導

中国科学院は厳粛に表明した：

1.材料製品の正確な測定、データは信頼性があり、私たちのパラメータが同じものをコピーした他の製品を信じないでください.

2.購入者の利益を保護するために：検収後の支払いをサポートします。

FE-5000型型強誘電体テスタ

キーーワード:でんきヒステリシスループ,強誘電体テスタ 、電歪、蝶曲線

中国科学院物理所、FE-5000 W型強誘電体テスターの開発を主導、当該強誘電体テスタ

キーーワード:でんきヒステリシスループ,強誘電体テスタ 、電歪、蝶曲線

一、製品紹介：

FE-5000型型強誘電体テスタ中国科学物理研究所が開発した高距離モデルの強誘電体性能材料試験装置であり、この装置は強誘電体薄膜、強誘電体材料（ブロック材料も可）の電気性能測定に適用でき、強誘電体薄膜の電気ヒステリシスループを測定でき、非対称ヒステリシスループを有する強誘電体薄膜の値を測定できる。電界歪試験を行うことができ、蝶曲線機能を得ることができ、装置は高温抵抗、高温誘電を拡張することもでき、コンコンデンサ-電圧曲線、TSC／TSDCなどの機能があります。本装置は圧電材料及び圧電素子の生産、応用と研究部門に従事する重要な設備の一つであり、すでに各大学と科学研究院で広く使用されている。

二、主な技術指標：

1、出力信号電圧：±5KV,10 kV拡張可能な電界応答蝶曲線機能

2、温度、室温-200℃、温度制御精度：±1℃

3、制御印加周波数0.01へ1KHz（セラミックス、単結晶、薄膜）PCエンドソフトウェア制御のカスタム設定、

4、制御出力電流0まで±50mA連続調整可能、PCエンドソフトウェアはカスタム設定を制御します。

5、動的電気ヒステリシスループ試験周波数範囲0.01Hz-5kHz

7、最小パルス幅保持時間は20米;最小立ち上がり時間は10us;

8、疲労テスト周波数500kHz（振幅10 Vpp、負荷容量1 nF）；高圧増幅器使用後の疲労周波数が最も高い5kHz;

9、試験速度：測定時間『5秒/サンプル・温度点

10、サンプル規格：ブロック材料寸法：直径2-100mm、厚み0.1-10mm

11、主な機能：ダイナミックヒステリシスループDHM、静電気ヒステリシスループSHM，I-V特性、パルスPUNDあ、疲れた疲労、電撃貫通強度BDM、リーク電流LM、電流-バイアス、保持力RM，

10. 電荷解像度は以下である10 mC;

リーク電流測定範囲1pA〜20mA、解像度は以下ではありません0.1pA;

12、制御方式：コンピュータリアルタイム制御、リアルタイム表示、リアルタイムデータ計算、分析と記憶

13、ソフトウェア収集：自動収集ソフトウェア、分析は他の関連する主流ソフトウェアと互換性がある。

14、試験精度：±0.05%

15、内蔵電圧：±20V

ぞうかのうモジュール：

いんさついんさつIM

温度変化テストTHM

POMモジュールは分極測定機能を実現する

CVMモジュールは小信号容量テストを実現し、獲得C-V曲線

PZM のモジュールによる圧電特性試験の実現

DPMモジュール試験誘電特性

RTMモジュール試験抵抗/抵抗率性能

中国職業プランナーモジュールは容量充放電試験を実現する。

フィルムプローブ台

FC-5000型米国TF-2000型テストデータ比較図

実測電気ヒステリシスループ、漏れ電流、破壊試験などの機能