yamato熱抵抗試験器TE 100パワー半導体セラミック基板

パワー半導体基板と材料の熱特性（熱抵抗）評価ISO 4825-1：2023に準拠した方法を用いた測定パワー半導体実装基板の熱特性評価と分析装置（TE 100）

特徴：

1.パワーデバイス基板の熱特性（熱抵抗）の評価装置。

2.迅速なテスト/分析機能、

3.ISO 4825-1：2023に準拠した評価モジュール構造を用いて放熱特性を評価することができる。

4.モジュール構造による放熱特性を評価することができる。

5.自己研究SiCチップによるパワーチップの発熱シミュレーション、

6.単一基材の放熱特性を測定し、評価することができる。

7.TEGチップは白金プローブを使用し、温度測定結果の正確さと安定を確保した、

自動車、電気、鉄道用途などの電力半導体。半導体の高熱伝導性設計に役立ちます。セラミック基板、伝熱材料、放熱器、その他のパワー半導体素子に応用することができる。

TEGチップを金属化基板などの試料に付着させて評価する：