XOS単波長X蛍光硫黄含有量分析計、サンプル膜3.0μm

XOS（Clora）単波長X蛍光硫黄含有量分析器、サンプル膜3.0μm、商品番号200335-02

XOS（Clora）単波長X蛍光硫黄含有量分析器、サンプル膜3.0μm、商品番号200335-02

Etnom® 3.0ミクロン（0.12 mil）、3.0'；XOSサンプル膜

フィルムはサンプルカップと一緒にサンプル支持窓として使用することができる。新しいサンプルカップの端にフィルムを貼り付けるだけです。Cloraデスクトップアナライザとの併用

Clora®（#400641-01m）
Clora®Accu-Flow（#400641-01mFT）
Clora®拡張範囲（#400641-01 mXR）
Clora®増程触媒（#400641-01 mXRC）

Accu-Flow（#400641-01 mXRFT）を搭載したClora®拡張
オートサンプラ付きClora®（#40143-01 m）
オートサンプラ付きClora®拡張範囲（#40143-01 mXR）
シンディ+Cl（403004-01 m）
ペトラ・マックス（403102-01）
ペトラ4294（403101-01）

（生産停止分析計）
Clora®Gen 1拡張シリーズ（#400641-01 XR）
Clora®Gen1（#400641-02）
Clora®（#400641-02m）

Clora®Gen 1オートサンプラ拡張範囲（#401430-01 XR）
Clora®増程触媒（#402192-01 mXR）
Clora®増程触媒自動サンプラ（#402193-01 mXR）

サンプルを空にする必要がありますか。

Sindie、Clora、Signal、PhoebeなどのMWDXRFアナライザでは、不揮発性サンプルを含むすべてのサンプルを空にすることをお勧めします。Petraアナライザは排気ガスを必要としませんが、標準的な操作手順が必要な場合は排気ガスを許可します。Petraサンプルを排気する場合は、サンプルが漏れないように12時の位置（中心ではなく）でカップを排気してください。

XOS単波長X蛍光硫黄含有量分析計

XOS単波長X蛍光塩素含有量分析計

XOS単波長X蛍光リン含有量分析計

XOSハンドヘルドX蛍光多元素分析器

応用分野：

総硫黄含有量の分析は、超低硫黄燃料から原油までの広範な応用をカバーする

製油所実験室、配管ターミナル、船上、添加剤工場、検査車、検査実験室に適用

XOS社はニューヨークに本社を置き、アメリカのダナハー社（NYSE：DHR）に所属している。XOSは*の元素分析装置と重要な応用材料メーカーであり、X線光学技術DCC®,異なる顧客とアプリケーションに対して特定の要素分析ソリューションを提供します。

XOS製品の革新的な単色波長分散X線蛍光技術（MWDXRF）及び高精度X線蛍光技術（HD XRF）は、DCCを採用する®集束モノクロミラー光学系。従来のXRFシステムと比べて、単色励起光の強度を高め、背景ノイズを下げ、基体効果に対する計器の感度を減らし、それによって信号対ノイズ比及び検出下限と測定精度を大幅に改善した、新技術はアナライザが*の検出性能と検出精度を持ち、また使いやすく、操作が信頼できることを確保した。XOS製品の応用は広く、多くの業界と分野をカバーしている。

石化業界では、XOSは広範な携帯型、実験室*及びオンラインのプロセスアナライザを提供することができ、主に原油精製プロセスの腐食防止検査、及びプロセス制御と製品油の品質制御、硫黄、塩素、シリコン、リン、バナジウム、ニッケル、ヒ素、鉄、鉛などの元素分析を含む。単一の要素でも複数の要素でも、お客様はワンクリック操作で*の正確な測定結果を得ることができます。

消費財の安全性とコンプライアンスの検出アプリケーションでは、例えば子供用品、おもちゃ、服装、電子製品など、XOSが提供する高解像度XRF（HDXRF®) 分析器はその中の重金属と毒性元素を無傷で測定することができ、分析時間を大幅に短縮し、システムの複雑さを低減し、集束励起光技術は分析領域の直径を1 mmまで小さくし、小面積と不規則形状サンプルの分析を正確にする、マルチビームモノクロ光励起エネルギーは、従来のXRF技術ではできなかったコーティングとマトリックス中の有毒元素成分をそれぞれ測定することができる。環境保護業界では、XOS製品は主に工業と市政廃水及び土壌中の重金属検査に用いられ、鉛、ヒ素、カドミウム、亜鉛など数十種類の元素を含み、分析は正確で迅速である。分析器は試薬や化学消耗品、サンプルの前処理を必要とせず、便利で迅速である。

米XOS社は分析機器メーカーの技術サプライヤー（OEM）として、機器メーカーにX線光学技術とサブシステムを提供し、X線分析機器の分析を強化することができる