- メール
- 電話番号
-
アドレス
中国上海市徐匯区零陵路599号愛謙ビル707室
製品カテゴリー
- Zシリーズ立体顕微鏡Leica Z 6 APO
- F 30ライン膜厚テスタ
- F 60全自動膜厚テスタ
- Diener NANOプラズマ洗浄機
- Vista−IR高分解能ナノ赤外線イメージングと分光システム
- LF-2000統合insituナノオペレータ
- 6インチナノインプリントNIL-150
- 受動防振台GWA-TM
- 高精度ナノ延伸システムNano UTM T 150
- RSA 5000シリーズスペクトルアナライザ
- TTR 500シリーズベクトルネットワークアナライザ（VNA）
- MTA 02微力変位試験操縦システム
- PA 1000パワーアナライザ
- TS 2000自動プローブ台
- TS 200 8インチ手動プローブ台
- F 3単点膜厚テスタ
- Candela CS 920表面欠陥検出器
- P 170全自動ウェハプローブ輪郭計/段差計
- NX−Hivac高真空原子間力顕微鏡
- NX−PTR全自動オンライン検出原子間力顕微鏡
- NX−HDM全自動欠陥検出原子間力顕微鏡
- P 17自動ウェハプローブ式輪郭計/段差計
- NX?Wafer全自動ウェハ検出原子間力顕微鏡
- NX-3 DM回転可能全自動原子間力顕微鏡
- Nano observer電気原子間力顕微鏡
- EM−AFM電子顕微鏡その場原子間力顕微鏡
- カソード蛍光イメージング分光検出システム
- SERSチップ基板
- 多機能マスクレスレーザー直写
- 光学表面欠陥分析計
- マスクレスレーザー直写
- Explorer電子ビーム、マグネトロン、熱蒸発薄膜堆積
- DV−502熱蒸発薄膜堆積
- Desktop Pro薄膜堆積−マグネトロンスパッタリング
- BenchTop Turboの熱蒸発とサンプル製造
- Desk V薄膜堆積ソリューション
- 高分光顕微鏡
- フリーサーフェス3 Dファセット検出器
- ウェハ曲げ応力測定器
- ないおうりょくけい
- はんじどうウェハボンディングけい
- きんせつがたリソグラフィき
- アレイ圧力センサシステム
- 原子層堆積システムALD製品
- 電子顕微鏡サンプル洗浄機
- CMP 20電気化学機械研磨機
- レーザ干渉リソグラフィ装置
- VITA反応イオンエッチング機（垂直チャンバ）
- COWIN高フラックス総合プラズマ反応イオンエッチング洗浄システム
- LAVIDAポリパラキシレンコーティング装置
- Coシリーズデスクトッププラズマエッチングマシン洗浄機
- CLONEデュアルモードプラズマエッチングマシン洗浄機
- えきたいりゅうどけい
- MezAFM-携帯型原子間力顕微鏡
- レーザサンプリング
- 精密ガラス切断機（テーブルタイプ）
- ADR低温恒温乾式mKシステム
- 液体粒径計-LPC
- 高温3 Dプリンタ
- ブロック抵抗試験器
- S 100型デジタルソーステーブル
- NX 12生体型原子間力顕微鏡
- Zeta-388自動マルチモード光学プロファイル装置
- TS 200-HP高出力プローブ台
- Zeta-300マルチモード光プロファイル装置
- TS 2000-DP高出力プローブ台
- TS 50手動小型プローブ台
- TS 2500-RF全自動無線周波数プローブ台
- TS 3000自動プローブ台
- MicroXAM 800白色光干渉計
- TS 300 12インチ手動プローブ台
- MDO 34オシロスコープ
- その場AFM in SEM
- パルスレーザ蒸着システム（PLD）
- アクティブ防振台AMT
- Duramin-100硬度計
- 3インチナノインプリントNIL 75
- その場自動ナノオペレーティングシステム
- その場MEMSチップとシンクロトロン放射Holder
- In−SEM HT高温インサイチュナノインデンテーション計
- Duramin-4硬度計
- 高温インサイチュナノインデンテーション計
- アクティブ防振台ARIST
- アクティブ防振台ARISMD
- 受動防振SOTOTT
- 受動防振台GWA-M
- 受動防振台GWA-TO
- アクティブ防振台PMT
- Diener Picoプラズマ洗浄機
- Diener FEMTOプラズマ洗浄機
- FT-NMT 04ナノ力学性能試験システム
- ACCUTOM-10/-100切断装置
- X 1シリーズデジタル調整可能乾燥キャビネット
- EZシリーズ立体顕微鏡
- DM 4500 P半自動知能デジタル偏光顕微鏡
- 徂徠カードMシリーズ立体顕微鏡LeicAM 165 FC/205 FA
- Sシリーズ立体顕微鏡
- 徂徠カードMシリーズ立体顕微鏡LeicAM 125/165 C/205 C/205 A
- DM 750 P専門偏光顕微鏡
- EUV/X線反射鏡
- X線フレネル波帯板（FZP）
- ラスタテンプレート
- MPI Titan無線周波数部品
- GBマイクロ波プローブ
- Quantifoil多孔質キャリア網
- GGBキャリブレーション標準仕様
- カスタム型防振システム
- イオンビームエッチング/堆積システム
- シリコン窒化膜ウィンドウ
- AFM基板
- AFMプローブ
- MPI無線周波数較正基板
- GGB能動高インピーダンス針先
- GGB直流プローブ
- あながたダイプレート
- プリズム結合器
- Duramin-40硬度計
- 4インチナノインプリントNIL-100
- 徂徠カード室温超薄型スライス機Leica EM UC 7
- 膜厚測定器
- BI-2500卓上表面プラズマ共振器
- Estableアクティブ防振台
- BI−4500高フラックス全自動表面プラズマ共振器
- TS 150-HP高出力プローブ台
- Scanwave走査マイクロ波近接場インピーダンス顕微鏡
- MVI散乱走査近接場光学顕微鏡
- TS 150 6寸手動プローブ台
- 4200 A-SCSパラメータアナライザ
- F 40顕微膜厚測定器
- Zeta 20マルチモード三次元光学プロファイル計
上海納騰計器有限公司
概要
X 1シリーズデジタル調整可能乾燥キャビネット
製品詳細
±1℃,±3%
温湿ディスプレイ精度
しつどはんい
せいぎょモード
でんあつ
RH相対湿度範囲：1%〜50%RH
定点調整可能なHumidity Manager V 2、デジタル温湿度曲線描画機能を提供する
220V
内寸（mm）
W1198×D645×H1618mm
W598×D645×H1618mm
W598×D645×H1071mm
W598×D645×H524mm
外寸（mm）
W1200×D695×H1820mm
W600×D695×H1820mm
W600×D695×H1274mm
W600×D695×H642mm
ラミネート寸法
W1155×D580×H20mm
W555×D580×H20mm
W555×D580×H20mm
W555×D580×H20mm
ようりょう
1250L624L413L202L
ラミネート数
5枚5枚3枚2枚
消費電力
Ave.50W;Max.155W
Ave.50W;Max.155W
Ave.26W;Max.145W
Ave.26W;Max.145W
| 温湿ディスプレイ精度 しつどはんい せいぎょモード でんあつ |
±1℃,±3%RH |
| 内寸（mm） | W903×D773×H869mm | W903×D425×H869mm | W448×D425×H869mm |
| 外寸（mm） | W905×D823×H1050mm | W905×D475×H1050mm | W450×D475×H960mm |
| ラミネート寸法 | W860×D720×H20mm | W555×D580×H20mm | W405×D380×H20mm |
| ようりょう | 607L |
334L |
165L |
| ラミネート数 | 3枚 |
3枚 |
3枚 |
| 消費電力 | Ave.50W;Max.155W | Ave.26W;Max.145W | Ave.26W;Max.145W |
| 基本配備 |
デバイスの選択
| オプション装備 |
